[发明专利]一种基于感光干膜工艺的碳纳米管薄膜晶体管及制作方法在审
申请号: | 201710411464.5 | 申请日: | 2017-06-05 |
公开(公告)号: | CN108987481A | 公开(公告)日: | 2018-12-11 |
发明(设计)人: | 孙东明;陈永洋;闫欣;孙陨;刘畅;成会明 | 申请(专利权)人: | 中国科学院金属研究所;东北大学 |
主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;H01L29/43;H01L29/16;H01L21/336 |
代理公司: | 沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 21234 | 代理人: | 张志伟 |
地址: | 110016 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 碳纳米管薄膜 晶体管 制备 半导体沟道 晶体管器件 纳米管薄膜 干膜工艺 感光干膜 衬底 漏极 全碳 源极 碳纳米管电极 碳纳米管沟道 薄膜晶体管 图形化工艺 新型碳纳米 电学性能 工艺成本 光刻工艺 力学性能 器件制备 栅绝缘层 制作工艺 光刻胶 规模化 常压 研发 制作 节约 | ||
1.一种基于感光干膜工艺的碳纳米管薄膜晶体管,其特征在于,碳纳米管薄膜晶体管的器件构成包括衬底以及衬底之上的源极、漏极、半导体沟道、栅绝缘层和栅极,所述的源极、漏极、栅极和半导体沟道由碳纳米管薄膜材料构成。
2.按照权利要求1所述的基于感光干膜工艺的碳纳米管薄膜晶体管,其特征在于,碳纳米管薄膜晶体管器件的结构类型为底栅型、埋栅型或顶栅型。
3.按照权利要求1所述的基于感光干膜工艺的碳纳米管薄膜晶体管,其特征在于,衬底是柔性衬底,栅绝缘层材料为聚合物材料。
4.按照权利要求3所述的基于感光干膜工艺的碳纳米管薄膜晶体管,其特征在于,柔性衬底材料为聚萘二甲酸乙二酯,聚合物材料为聚甲基丙烯酸甲酯。
5.一种权利要求1至4所述的基于感光干膜工艺的碳纳米管薄膜晶体管的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)基于高密度碳纳米管薄膜在衬底上制作晶体管的源极和漏极;
(2)采用覆膜技术在碳纳米管薄膜表面贴覆感光干膜,通过光刻技术实现碳纳米管薄膜的图形化;
(3)转移低密度碳纳米管薄膜,通过干膜覆膜和光刻技术制作沟道;
(4)通过旋涂固化工艺制备栅绝缘层;
(5)转移高密度碳纳米管薄膜,通过干膜覆膜和光刻技术制作栅极。
6.按照权利要求5所述的基于感光干膜工艺的碳纳米管薄膜晶体管的制作方法,其特征在于,碳纳米管薄膜为浮动催化化学气相沉积法收集的随机碳纳米管网络,其制备方法包括:在温度为1100±50℃的条件下,将二茂铁催化剂溶液通过注射器匀速地注入到反应腔体中,与碳源气体发生反应生成碳纳米管;以及利用高通量硝酸纤维素膜在出气端收集生成的碳纳米管,从而获得随机分布的碳纳米管薄膜。
7.按照权利要求5所述的基于感光干膜工艺的碳纳米管薄膜晶体管的制作方法,其特征在于,在感光干膜工艺中,通过控制覆膜机辊轮的速度、压力和温度来调节干膜和衬底的粘合度,提高干膜的稳定性;其中,辊轮速度0.5~2.0m/min,压力为0.5~1.5bar,温度为100~150℃。
8.按照权利要求5所述的基于感光干膜工艺的碳纳米管薄膜晶体管的制作方法,其特征在于,在感光干膜工艺中,曝光、显影并通过光学显微镜观察其形貌的变化,曝光后需要后处理,显影前需要静置。
9.按照权利要求8所述的基于感光干膜工艺的碳纳米管薄膜晶体管的制作方法,其特征在于,曝光时间为4.5~14s,曝光后进行烘焙,烘焙时间为30~150s,烘焙温度90~140℃,曝光后的静置时间为10~30min。
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