[发明专利]光学组件和3D测量设备有效
申请号: | 201710405943.6 | 申请日: | 2017-06-01 |
公开(公告)号: | CN107063124B | 公开(公告)日: | 2020-10-27 |
发明(设计)人: | 周晓军;王行;盛赞;李朔;李骊;杨高峰 | 申请(专利权)人: | 南京华捷艾米软件科技有限公司 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24;G02B27/09 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 李明 |
地址: | 210012 江苏省南京市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 组件 测量 设备 | ||
1.一种光学组件,所述光学组件适用于3D测量设备,其特征在于,所述光学组件包括光源单元、成像单元以及位于所述光源单元和所述成像单元之间的调整单元;所述光源单元包括多个光源,多个所述光源排列成多行多列,所述光源的出射光线垂直于所述光源单元出光侧的表面;所述调整单元包括多个调整透镜,每个所述调整透镜对应一个所述光源,所述调整透镜能够接收并调整与其所对应的所述光源所发出的出射光线,以使得所述出射光线调整为平行光线,所述成像单元用于接收并复制所述平行光线,以形成预设光学图像,其中,
所述调整透镜以及所述光源单元之间满足下述公式:
DL*tanθ,
所述D为所述调整透镜的直径,所述L为调整透镜到所述光源单元之间的距离,所述θ为光源单元的最大半发射角;
所述成像单元包括调制光学器件,所述调制光学器件包括基底以及形成所述基底上的微结构。
2.根据权利要求1所述的光学组件,其特征在于,所述调整单元还包括扩束器件,所述扩束器件位于所述调整透镜的出光侧以及所述成像单元的入光侧之间,所述扩束器件能够调节所述光学组件的视场角,且所述扩束器件还用于接收所述调整透镜所发出的平行光线并对该平行光线进行准直。
3.根据权利要求2所述的光学组件,其特征在于,所述扩束器件包括透镜、透镜组、菲涅尔透镜以及具有等效焦距的二元光学器件中的一者。
4.根据权利要求2所述的光学组件,其特征在于,所述调整透镜、所述成像单元以及所述扩束器件一体形成;或,
所述扩束器件和所述成像单元一体形成。
5.根据权利要求1至4任意一项所述的光学组件,其特征在于,所述光源为激光光源,且所述光源的直径小于300um。
6.根据权利要求1至4任意一项所述的光学组件,其特征在于,所述光源单元还包括衬底以及形成在所述衬底表面的所述多个光源。
7.根据权利要求1至4任意一项所述的光学组件,其特征在于,所述调整透镜与其所对应的所述光源相对设置,且所述调整透镜的光轴与其所对应的所述光源的发光轴同轴。
8.一种3D测量设备,所述3D测量设备包括光学组件,所述光学组件用于为所述3D测量设备提供3D测量所需的结构光,其特征在于,所述光学组件包括权利要求1至7任意一项所述的光学组件。
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