[发明专利]一种确定校验矩阵的方法及装置、计算机存储介质

权利要求书

1.一种确定校验矩阵的方法，其特征在于，该方法包括：

确定低密度奇偶校验码LDPC矩阵的基础图；

根据所述LDPC矩阵的基础图 ，确定LDPC的校验矩阵；

其中，所述确定LDPC矩阵的基础图 ，具体包括：

按照预设的行数与列数，确定LDPC矩阵的基础图 ；

其中，所述LDPC矩阵的基础图 ，包括多个码率的基础图 ，不同码率的基础图 结构不同；

其中，所述按照预设的行数与列数，确定LDPC矩阵的基础图 ，具体包括：

按照第一码率，生成预设行重的非行正交结构的基础图 ；

基于所述非行正交结构的基础图 ，按照第二码率进行扩展，生成准行正交结构的基础图 ；

基于所述准行正交结构的基础图 ，按照第三码率进行扩展，生成行正交结构的基础图；

由所述非行正交结构的基础图 、准行正交结构的基础图 和行正交结构的基础图 ，构成满足预设的行数与列数要求的LDPC矩阵的基础图 ；

其中，第一码率大于第二码率，第二码率大于第三码率。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述LDPC矩阵的基础图 ，确定LDPC的校验矩阵，具体包括：

根据所述LDPC矩阵的基础图 ，确定子循环矩阵的循环系数；

利用所述子循环矩阵的循环系数，对原模图矩阵进行散列操作，得到LDPC的校验矩阵。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基础图 中，双对角矩阵所对应的基础图 中所有行的行重都大于或等于预设值。

4.一种确定校验矩阵的装置，其特征在于，包括：

第一单元，用于确定低密度奇偶校验码LDPC矩阵的基础图；

第二单元，用于根据所述LDPC矩阵的基础图 ，确定LDPC的校验矩阵；

其中，所述第一单元具体用于：

按照预设的行数与列数，确定LDPC矩阵的基础图 ；

其中，所述LDPC矩阵的基础图 ，包括多个码率的基础图 ，不同码率的基础图 结构不同；

其中，所述第一单元具体用于：

按照第一码率，生成预设行重的非行正交结构的基础图 ；

基于所述非行正交结构的基础图 ，按照第二码率进行扩展，生成准行正交结构的基础图 ；

基于所述准行正交结构的基础图 ，按照第三码率进行扩展，生成行正交结构的基础图；

由所述非行正交结构的基础图 、准行正交结构的基础图 和行正交结构的基础图 ，构成满足预设的行数与列数要求的LDPC矩阵的基础图 ；

其中，第一码率大于第二码率，第二码率大于第三码率。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述第二单元具体用于：

根据所述LDPC矩阵的基础图 ，确定子循环矩阵的循环系数；

利用所述子循环矩阵的循环系数，对原模图矩阵进行散列操作，得到LDPC的校验矩阵。

6.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述基础图 中，双对角矩阵所对应的基础图 中所有行的行重都大于或等于预设值。