[发明专利]一种基于曲面基准件的五自由度参数测量方法有效

专利信息
申请号: 201710398416.7 申请日: 2017-05-31
公开(公告)号: CN107091608B 公开(公告)日: 2019-08-06
发明(设计)人: 黄银国;黄武;李杏华;房丰洲;张震楠 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/26
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 张金亭
地址: 300072 天*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 测量 五自由度 旋转角 一一对应关系 参数测量 曲面基准 多维参数 多自由度 二维位移 二维位置 方法测量 高效获取 光学测头 光学曲面 互相独立 间隔设置 位移变化 一次测量 测量点 基准件 运动体 单点 二维 自动化 制造
【权利要求书】:

1.一种基于曲面基准件的五自由度参数测量方法,其特征在于,在Z轴上安装光学测头,在与Z轴垂直的运动体上卡固曲面基准件,在所述曲面基准件上至少设有曲面Ⅰ、曲面Ⅱ和平面Ⅲ,所述光学测头位于所述曲面基准件的上方,所述光学测头出射三束细直平行光束,所述三束细直平行光束为光束Ⅰ、光束Ⅱ和光束Ⅲ,所述光束Ⅲ和所述光学测头光轴重合,所述光束Ⅰ和光束Ⅱ关于光束Ⅲ对称,所述光束Ⅰ与光束Ⅱ间的距离和曲面Ⅰ与曲面Ⅱ中心间的距离相等,所述平面Ⅲ位于所述曲面Ⅰ和曲面Ⅱ之间;

所述光学测头包括激光器、反射镜、孔径光阑、分光棱镜、成像透镜和CCD相机,所述激光器发出的准直光束经所述反射镜反射后被所述孔径光阑细分成光束Ⅰ、光束Ⅱ和光束Ⅲ,所述光束Ⅰ、光束Ⅱ和光束Ⅲ入射到所述分光棱镜中,1/2能量的反射光束投射到曲面基准件上,其中所述光束Ⅰ投射到所述曲面Ⅰ内形成测量点Ⅰ,所述光束Ⅱ投射到所述曲面Ⅱ内形成测量点Ⅱ,所述光束Ⅲ投射到所述平面Ⅲ上形成测量点Ⅲ,测量点Ⅰ、测量点Ⅱ和测量点Ⅲ反射的光束经所述分光棱镜透射后,通过所述成像透镜成像在所述CCD相机上;

采用所述光学测头测量所述曲面基准件的三维旋转角和二维位移,具体步骤如下:

1)以CCD相机首行首列像素为原点O'、以首行像素为X'轴、以首列像素为Y'轴建立CCD坐标系O'-X'Y';以曲面基准件中曲面Ⅰ和曲面Ⅱ中心连线的中点为原点O、以两曲面中心连线为Y轴、以平面Ⅲ的法向量方向为Z轴建立曲面基准件坐标系O-XYZ;以曲面Ⅰ中心为原点O1、以X轴方向为X1轴、以Y轴方向为Y1轴、以Z轴方向为Z1轴建立曲面Ⅰ的坐标系O1-X1Y1Z1;以曲面Ⅱ的中心为原点O2、以X轴方向为X2轴、以Y轴方向为Y2轴、以Z轴方向为Z2轴建立曲面Ⅱ的坐标系O2-X2Y2Z2

2)通过标定得出光学测头的光轴在CCD相机中的位置坐标A'0(x'0,y'0);

3)调整所述曲面基准件,使所述曲面基准件位于光学测头的测量范围内,所述光学测头的光轴与平面Ⅲ的法向量平行,且光束Ⅰ投射到曲面Ⅰ的中心点,光束Ⅱ投射到曲面Ⅱ的中心点,使此时曲面基准件位于初始位置处;

4)进行三维旋转角的测量,具体步骤如下:

4.1)使曲面基准件绕X轴旋转一个设定角度,绕Y轴旋转一个设定角度,此时光束Ⅲ投射到平面Ⅲ上的测量点A3

4.2)测量曲面基准件的旋转角α和旋转角β,具体步骤如下:

4.2.1)获取测量点A3在所述CCD相机中成像光斑A3'的中心位置在O'-X'Y'下的坐标A′3(x'3,y'3);

4.2.2)将成像光斑A′3中心位置坐标A′3(x'3,y'3)转换为光斑中心距离光轴的距离sx3、sy3

sx3=x′3-x′0

sy3=y′3-y′0

4.2.3)计算曲面基准件绕X轴的旋转角α和绕Y轴的旋转角β:

α=arctan(sx3/f)/2

β=arctan(sy3/f)/2

4.3)测量曲面基准件绕Z轴的旋转角γ,具体步骤如下:

4.3.1)使曲面基准件绕Z轴旋转一个设定角度,此时曲面Ⅰ上对应的测量点为A1,曲面Ⅱ上对应的测量点为A2

4.3.2)获取测量点A1在O1-X1Y1Z1下的坐标A1(x1,y1)和测量点A2在O2-X2Y2Z2下的坐标A2(x2,y2),具体步骤如下:

4.3.2.1)获取测量点A1在所述CCD相机中成像光斑A1'的中心位置坐标A′1(x′1,y′1);

4.3.2.2)将成像光斑A1'中心位置坐标A′1(x′1,y′1)转换为光斑中心距离光轴的距离sx1、sy1

sx1=x′1-x′0

sy1=y′1-y′0

4.3.2.3)计算光束Ⅰ的反射光束在X'O'Z'平面上的投影与光学测头光轴的夹角θ1和光束Ⅰ的反射光束在Y'O'Z'平面上的投影与光学测头光轴的夹角ω1

θ1=arctan(sx1/f)

ω1=arctan(sy1/f)

其中:f为成像透镜焦距;

4.3.2.4)计算测量点A1处切线在X1O1Z1面上的投影与Z1轴的夹角ξx1及其正切值kx1和测量点A1处切线在X1O1Z1面上的投影与Z1轴的夹角ξy1及其正切值ky1

ξx1=θ1+2α

ξy1=ω1+2β

kx1=tan(ξx1)

ky1=tan(ξy1)

4.3.2.5)计算测量点A1在O1-X1Y1Z1下的坐标A1(x1,y1):

x1=f-1(kx1)

y1=g-1(ky1)

其中:f-1(x)是曲面方程在X方向上的偏导数的反函数;

g-1(x)是曲面方程在Y方向上的偏导数的反函数;

4.3.2.6)按照与步骤4.3.2.1)~步骤4.3.2.5)相同的步骤,计算测量点A2在O2-X2Y2Z2下的坐标A2(x2,y2):

x2=f-1(kx2)

y2=g-1(ky2)

其中:kx2是测量点A2处切线在X2O2Z2面上的投影与Z2轴的夹角的正切值;

ky2是测量点A2处切线在Y2O2Z2面上的投影与Z2轴的夹角的正切值;

4.3.3)得到向量和向量

4.3.4)计算曲面基准件绕Z轴的旋转角:

其中:d0为曲面Ⅰ和曲面Ⅱ中心间的距离;

5)测量曲面基准件在X方向和Y方向上的位移,具体步骤如下:

5.1)记录曲面Ⅰ上测量点A1(x1,y1)在O1-X1Y1Z1下的初始坐标A1(x1,y1),曲面Ⅱ上测量点A2在O2-X2Y2Z2下的初始坐标A2(x2,y2);

5.2)使曲面基准件在X方向上平移一个设定量,在Y方向上平移一个设定量,此时曲面Ⅰ上对应的测量点为A4,曲面Ⅱ上对应的测量点为A5,测量曲面基准件的二维位移,具体步骤如下:

5.2.1)按照与步骤4.3.2)相同的步骤,计算测量点A4在O1-X1Y1Z1下的坐标A4(x4,y4)和测量点A5在O2-X2Y2Z2下的坐标A5(x5,y5):

x4=f-1(kx4)

y4=g-1(ky4)

x5=f-1(kx5)

y5=g-1(ky5)

其中:kx4是测量点A4处切线在X1O1Z1面上的投影与Z1轴的夹角的正切值;

ky4是测量点A4处切线在Y1O1Z1面上的投影与Z1轴的夹角的正切值;

kx5是测量点A5处切线在X2O2Z2面上的投影与Z2轴的夹角的正切值;

ky5是测量点A5处切线在Y2O2Z2面上的投影与Z2轴的夹角的正切值;

5.2.2)计算曲面基准件在X方向上的位移Δx和Y方向上的位移Δy:

Δx=[(x4+x5)-(x1+x2)]/2

Δy=[(y4+y5)-(y1+y2)]/2。

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