[发明专利]分析方法以及分析装置

说明书

技术领域

有检测来自试样的光来进行分析的分析装置(例如参照专利文献1)。另外，有通过磁铁使磁性粒子移动来进行检体分析的分析装置(例如参照专利文献2)。

背景技术

专利文献1公开一种分析装置，具备：传感器构造，作为配置发光试样的收容部件；检测器，检测来自发光试样的光；以及反射体，使从传感器构造向与检测器相反的一侧的光向检测器侧反射。反射体被配置成覆盖传感器构造。在上述专利文献1中，从传感器构造向与检测器相反的一侧的光也能够通过反射体反射而由检测器检测，所以能够提高检测灵敏度。

另外，上述专利文献2公开一种分析装置，具备使磁性粒子在盘内移动的磁铁部。

【现有技术文献】

【专利文献】

专利文献1：日本特开2006-343335号公报

专利文献2：美国专利申请公开第2013/0206701号说明书

发明内容

在专利文献1中公开的技术是使从传感器构造向外放出的光通过反射体反射并使光聚光到检测器的技术。然而，有时从传感器构造向外放出的光不充分，即使被反射体反射，也无法通过检测器进行充分的检测。

特别地，在利用专利文献2中公开的技术的、在移送使磁性粒子和被检物质结合而得到的物质，移送通过使标识抗体对被检物质反应而生成的免疫复合体，对由免疫复合体构成的试样加上基质从而促使发光的处理中，有时发生如下那样的不好的状态：试样未合适地移送到检测通过加上基质而发出的光的槽，混入气泡，发生磁性粒子的凝集。在这样的情况下，光被不充分地放出。

本发明是面向能够在提高来自试样的光的检测灵敏度的同时，确认成为光检测的对象的试样是否为合适的状态的发明。

本发明的第一方案的分析方法是检测并分析来自被调制为根据被检物质的量发光的试样的光的分析方法，对收容所述试样的收容部件进行摄像，将反射部的状态切换为使来自所述试样的光向光检测部反射的状态，通过光检测部检测来自所述试样的光，根据通过所述光检测部所检测出的光量，输出试样的分析结果。

本发明的第二方案的分析装置具备：保持部，用于保持收容被调制为根据被检物质的量发光的试样的收容部件；光检测部，用于检测来自在通过所述保持部所保持的所述收容部件中所收容的试样的光；摄像部，用于对所述收容部件进行摄像；以及反射部，构成为能够切换使从所述试样向所述摄像部的光向所述光检测部反射的第一状态、和不妨碍从所述收容部件向所述摄像部的光的第二状态。

能够在提高来自试样的光的检测灵敏度的同时，确认成为光检测的对象的试样是否为合适的状态。

附图说明

图1是表示反射部为反射状态的情况(A)和非反射状态的情况(B)的分析装置的概略图。

图2是表示收容部件的结构例的图(A)以及(B)。

图3是表示使用盒的分析装置的结构例的示意图。

图4是表示盒的结构例的俯视图。

图5是表示分析装置的结构例的内部正面图。

图6是表示分析装置的结构例的内部侧面图。

图7是表示分析装置的结构例的内部俯视图。

图8是表示反射部以及光调整部的结构例的立体图。

图9是表示反射部以及光调整部的结构例的侧面图。

图10是用于说明反射状态以及第一光透射状态的、反射部以及光调整部的示意性的俯视图以及侧剖面图。

图11是用于说明反射状态以及第二光透射状态的、反射部以及光调整部的示意性的俯视图以及侧剖面图。

图12是用于说明非反射状态以及光切断状态的、反射部以及光调整部的示意性的俯视图以及侧剖面图。

图13是用于说明分析装置的测定动作的流程图。

图14是用于说明分析装置的光检测处理的流程图。

图15是表示分析装置的保持部的其它结构例(A)以及(B)的示意图。

图16是表示分析装置的反射部以及光调整部的其它结构例(A)～(D)的示意图。

图17是表示使分析装置的反射部以及光调整部移动的结构的其它结构例(A)以及(B)的示意图。

图18是用于说明基于摄像图像的送液错误判定(A)、气泡混入错误判定(B)、磁性粒子的凝集错误判定(C)的示意图。

(符号说明)