[发明专利]物品检测方法和装置

权利要求书

1.一种物品检测装置，其中，所述装置包括：收发单元、处理单元和反射物；

所述收发单元向置于所述收发单元和所述反射物之间的待检测物品发送发射信号；并接收所述发射信号经所述待检测物品和所述反射物反射后的接收信号；

所述处理单元根据所述接收信号检测所述待检测物品；

其中，所述接收信号是第一反射信号和第二反射信号的叠加信号，所述第一反射信号是所述发射信号经所述待检测物品反射后的信号，所述第二反射信号是所述发射信号经所述待检测物品透射后的信号经过所述反射物反射后再次经所述待检测物品透射后获得的信号。

2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述处理单元包括：

第一处理模块，其用于根据所述接收信号中的第一反射信号的第一特性检测所述待检测物品；

第二处理模块，其用于在所述第一处理模块根据所述第一反射信号的第一特性不能检测出所述待检测物品时，根据所述接收信号中的第二反射信号的第一特性检测所述待检测物品。

3.根据权利要求1所述的装置，其中，所述反射物采用反射性高，散射性低的材质。

4.根据权利要求1所述的装置，其中，所述反射物和所述收发单元的第二距离是所述待检测物品和所述收发单元的第一距离的倍数。

5.根据权利要求2所述的装置，其中，所述第一特性是反射信号强度。

6.根据权利要求1所述的装置，其中，所述反射物是金属板、或者能够聚光的光学透镜。

7.根据权利要求2所述的装置，其中，所述处理单元还包括：

确定模块，其用于将所述接收信号与所述发射信号进行混频处理，以获得相应的基带信号，对所述基带信号进行快速傅里叶变换处理，以得到所述第一反射信号的第一特性和所述第二反射信号的第一特性。

8.根据权利要求2所述的装置，其中，所述第一处理模块根据预存的第一参考特性范围和物品的对应关系以及所述第一反射信号的第一特性检测所述待检测物品，所述第二处理模块根据预存的第二参考特性范围和物品的对应关系以及所述第二反射信号的第一特性检测所述待检测物品。

9.根据权利要求1所述的装置，其中，所述反射物的反射面的尺寸小于所述待检测物品。

10.一种物品检测方法，其中，所述方法包括：

由收发单元向置于所述收发单元和反射物之间的待检测物品发送发射信号；并接收所述发射信号经所述待检测物品和所述反射物反射后的接收信号；

根据所述接收信号检测所述待检测物品；

其中，所述接收信号是第一反射信号和第二反射信号的叠加信号，所述第一反射信号是所述发射信号经所述待检测物品反射后的信号，所述第二反射信号是所述发射信号经所述待检测物品透射后的信号经过所述反射物反射后再次经所述待检测物品透射后获得的信号。