[发明专利]X射线系统和测量准直屏蔽板的移动精度的方法

说明书

本发明公开了一种X射线系统和测量一准直屏蔽板的移动精度的方法。该X射线系统包括：一X射线管，其具有一焦点；一准直屏蔽板，其具有一小孔，所述小孔小于所述焦点；一驱动单元，其驱动所述小孔先沿一预设方向自一第一位置移动一预设距离至一第二位置，再沿相反的方向自所述第二位置移动相同距离至一第三位置；一探测器，其接收从所述焦点发射并透过所述小孔的X射线，从而探测到所述焦点在所述探测器上的投影处的光强；一计算单元，其计算所述小孔分别在所述第一位置和第三位置时的所述光强的质心。本发明的X射线系统和测量准直屏蔽板的移动精度的方法能在系统层面定量且直接地测量准直屏蔽板的移动精度。

技术领域

本发明涉及X射线系统，特别是其准直器。

背景技术

在CT扫描器中，准直器需要很高的精度和移动精确性，否则会产生不良的成像和不必要的辐射剂量。因此，经常性地监控准直器的移动精确性是至关重要的。

目前通常采用的方式是设置位置传感器。

发明内容

有鉴于此，本发明提出了一种X射线系统和测量一准直屏蔽板的移动精度的方法。

根据本发明的第一方面，提供一种X射线系统，包括：一X射线管，其具有一焦点；一准直屏蔽板，其具有一小孔，所述小孔小于所述焦点；一驱动单元，其驱动所述小孔先沿一预设方向自一第一位置移动一预设距离至一第二位置，再沿相反的方向自所述第二位置移动相同距离至一第三位置；一探测器，其接收从所述焦点发射并透过所述小孔的X射线，从而探测到所述焦点在所述探测器上的投影处的光强；一计算单元，其计算所述小孔分别在所述第一位置和第三位置时的所述光强的质心。

在一实施例中，所述探测器沿一第一方向和一第二方向延伸，所述计算单元根据下式计算质心：

其中COG_D1,P1、COG_D2,P1是所述小孔在所述第一位置时所述光强的质心分别在所述第一方向和所述第二方向上的分量，COG_D1,P3、COG_D2,P3是所述小孔在所述第三位置时所述光强的质心分别在所述第一方向和所述第二方向上的分量，i从1变化至所述探测器在所述第一方向上的单元数，j从1变化至所述探测器在所述第二方向上的单元数，I₁(i,j)是所述小孔在所述第一位置时所述探测器在所述第一方向上第i个、在所述第二方向上第j个单元上的光强，I₃(i,j)是所述小孔在所述第三位置时所述探测器在所述第一方向上第i个、在所述第二方向上第j个单元上的光强。

在一实施例中，所述第一方向是通道方向，所述第二方向是排方向。

根据本发明的第二方面，提供一种测量一准直屏蔽板的移动精度的方法，包括：提供一X射线管，其具有一焦点；在所述准直屏蔽板设置一小孔，所述小孔小于所述焦点；驱动所述小孔先沿一预设方向自一第一位置移动一预设距离至一第二位置，再沿相反的方向自所述第二位置移动相同距离至一第三位置；接收从所述焦点发射并透过所述小孔的X射线，从而探测到所述焦点的投影处的光强；计算所述小孔分别在所述第一位置和第三位置时的所述光强的质心。

在一实施例中，以一探测器接收X射线并探测光强，所述探测器沿一第一方向和一第二方向延伸，所述计算所述小孔分别在所述第一位置和第三位置时的所述光强的质心包括根据下式计算质心：