[发明专利]一种基于太赫兹光谱技术的皮革种类快速无损检测方法

权利要求书

1.一种基于太赫兹光谱技术的皮革种类快速无损检测方法，其特征在于，步骤如下：

S1：制备适合太赫兹光谱检测皮革样品的检测支架；

S2：测量待测皮革样品的厚度；

S3：测量空白样品检测支架，获得参比太赫兹时域光谱信号；测量并获得装有待测样品检测支架的样品太赫兹时域光谱信号；利用公式计算获得样品的太赫兹光谱特征参数，包含吸收系数、折射率；

S4：多次测量同一样品不同位置的太赫兹时域光谱信号，计算特征参数，取平均值减小误差，获得待测样品的太赫兹光谱特征参数的平均值；

S5：比对构建形成的皮革太赫兹特征光谱数据库确定待测皮革种类。

2.根据权利要求1所述的一种基于太赫兹光谱技术的皮革种类快速无损检测方法，其特征在于，所述检测支架包含夹片和紧固旋钮；夹片为两片一样的带孔聚乙烯片，孔径大于等于2cm，使用时将皮革样品平展置于两片带孔聚乙烯片中间，利用夹片固定，使用紧固旋钮拧紧，形成“三明治”结构。

3.根据权利要求2所述的一种基于太赫兹光谱技术的皮革种类快速无损检测方法，其特征在于，所述聚乙烯片的单片厚度为2cm。

4.根据权利要求1所述的一种基于太赫兹光谱技术的皮革种类快速无损检测方法，其特征在于，所述测量待测皮革样品的厚度可测量“三明治”结构的厚度，直接减去两片夹片的厚度即为样品厚度。

5.根据权利要求1所述的一种基于太赫兹光谱技术的皮革种类快速无损检测方法，其特征在于，所述S3、S4的具体测量计算方法为，将空白样品的检测支架和装有待测样品检测支架依次置于透射式太赫兹时域光谱装置中，分别获得空白样品的检测支架和装有待测样品检测支架的太赫兹时域光谱信号；以前者信号作为参考信号，后者作为样品信号；

待测样品折射率n(f)计算公式如下：

其中，分别为样品光谱能量Is和参考光谱能量Iref进行傅里叶变换后获得的相位信息，样品信号和参考信号的太赫兹时域光谱信号进行傅里叶变换后可获得样品光谱能量Is和参考光谱能量Iref；c代表光速，d代表太赫兹穿透的样品厚度，f代表太赫兹的频率；

吸收系数α(f)的计算公式如下：

α(f)=2dln[4n(f)ρ(f)[n(f)+1]2]]]>

其中ρ(f)是Is和Iref傅里叶变换的振幅比，d代表太赫兹穿透样品的厚度，n(f)为折射率。

6.根据权利要求1所述的一种基于太赫兹光谱技术的皮革种类快速无损检测方法，其特征在于，所述皮革太赫兹特征光谱数据库通过收集测量已知种类皮革标本获得不同种类皮革样品的太赫兹特征光谱，形成大样本的皮革太赫兹特征光谱数据库；测量计算方法同权利要求1的S1至S4步，并且通过不断获取待测样品的太赫兹光谱特征来完善皮革样品光谱数据库。