[发明专利]一种激光干涉检测轴承滚珠面型误差的系统及方法在审
申请号: | 201710375587.8 | 申请日: | 2017-05-24 |
公开(公告)号: | CN107121092A | 公开(公告)日: | 2017-09-01 |
发明(设计)人: | 刘志刚;郝维娜;顾少伟;令锋超 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司61200 | 代理人: | 陆万寿 |
地址: | 710049 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 激光 干涉 检测 轴承 滚珠 误差 系统 方法 | ||
1.一种激光干涉检测轴承滚珠面型误差的系统,其特征在于,包括稳频激光器(1)、空间滤波器(2)、激光扩束器(3)、分光镜(4)、参考平面反射镜(5)、成像透镜(9)、CCD相机(10)和移相装置;
稳频激光器(1)的出射光路上依次设置有空间滤波器(2)、激光扩束器(3)、分光镜(4)、测球补偿透镜(7)和待测轴承滚珠(8);
分光镜(4)的旁侧设置有参考平面反射镜(5),参考平面反射镜(5)连接能够驱动其移动的移相装置;
参考平面反射镜(5)、分光镜(4)、成像透镜(9)和CCD相机(10)位于同一光路上,成像透镜(9)和参考平面反射镜(5)设置于分光镜(4)相对的两侧。
2.根据权利要求1所述的一种激光干涉检测轴承滚珠面型误差的系统,其特征在于,参考平面反射镜(5)、分光镜(4)、成像透镜(9)和CCD相机(10)所位于的同一光路与稳频激光器(1)的出射光路垂直。
3.根据权利要求1所述的一种激光干涉检测轴承滚珠面型误差的系统,其特征在于,移相装置包括相互连接的压电陶瓷晶体(6)和压电陶瓷控制器(11);参考平面反射镜(5)连接压电陶瓷晶体(6)。
4.根据权利要求1所述的一种激光干涉检测轴承滚珠面型误差的系统,其特征在于,稳频激光器(1)作为光源,输出频率稳定的光束;光束通过空间滤波器(2)后得到准直的平面光束,再由激光扩束器(3)将准直光束进行扩束,平面光束经过分光镜(4)后被分成垂直的参考光与测量光两路,其中一路参考平面光束入射到参考平面镜(5)后原路返回,另一路测量平面光束入射到球面补偿透镜(7)后调整为球面波,经被测轴承滚珠(8)反射后再次经过球面补偿透镜(7)调整为平面光束,参考光束与测量光束经分光镜(4)后汇合形成干涉现象,通过成像物镜(9)与CCD相机(10)拍摄得到干涉图像。
5.根据权利要求1所述的一种激光干涉检测轴承滚珠面型误差的系统,其特征在于,CCD相机(10)和移相装置均连接计算机(12)。
6.一种激光干涉检测轴承滚珠面型误差的方法,其特征在于,基于权利要求1至5中任一项所述的一种激光干涉检测轴承滚珠面型误差的系统,包括:采用稳频激光器作为光源,输出频率稳定的光束;光束通过空间滤波器后得到准直的平面光束,再由激光扩束器将准直光束进行扩束,平面光束经过分光镜后被分成垂直的参考光与测量光两路,其中一路参考平面光束入射到参考平面镜后原路返回,另一路测量平面光束入射到球面补偿透镜后调整为球面波,经被测轴承滚珠反射后再次经过球面补偿透镜调整为平面光束,参考光束与测量光束经分光镜后汇合形成干涉现象,通过成像物镜与CCD相机拍摄得到初始相位干涉图像;
初始相位干涉图像得到后,控制进行参考平面镜π/2移相,CCD重复拍摄得到第二干涉图像;朝同一方向重复进行π/2移相,CCD重复拍摄得到第三干涉图像。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,通过移相干涉公式得到被测轴承滚珠上各点的相位信息:
I1(x,y)、I2(x,y)、I3(x,y)分别对应三次移相时干涉图像上任意一点(x,y)点的光强;
通过泽尼克多项式拟合,对得到的离散的面型相位信息进行处理,得到完整的相位信息:
其中,Zn为泽尼克多项式,an为拟合得到的泽尼克系数,N为拟合采用的泽尼克多项式总项数;
对于待侧面上每一点(x,y),对泽尼克拟合结果的倾焦、离焦所造成的像差进行剔除,得到准确的轴承滚珠面型相位误差信息:
φ(x,y)=φk(x,y)-a1Z1-a2Z2-a4Z4
其中φk(x,y)为原始拟合结果,φ(x,y)为最终拟合结果,Z1,Z2,Z4与a1,a2,a4分别为泽尼克多项式第1,2,4项与相对应的拟合得到的泽尼克系数;
将每一点的相位信息转化为面型信息:
其中λ为稳频激光器(1)出射波长;得到最终的测量结果。
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