[发明专利]一种夹具

说明书

本发明公开了一种夹具，涉及夹紧设备技术领域，可解决现有技术中因芯片位置不确定而导致测试效率低的问题。本发明夹具包括：载体，载体包括用于承载工件的承载区；夹持组件，夹持组件包括第一夹持单元和第二夹持单元，第一夹持单元同时用于阻挡工件在承载区上朝互相垂直的第一方向和第二方向移动，第二夹持单元上开设有与承载区一一对应的缺口，每个缺口内均设有两个夹持部，其中一个夹持部用于阻挡相应承载区上的工件朝第一方向的反向移动，另一个夹持部用于阻挡相应承载区上的工件朝第二方向的反向移动；驱动组件，驱动组件与第二夹持单元连接，用于驱动第二夹持单元运动。本发明用于夹紧工件。

技术领域

本发明涉及夹紧设备技术领域，尤其涉及一种夹具。

背景技术

高速光器件TOSA(Transmitter Optical Subassembly，光发射次模块)中会用到一种约0.5mm×1.0mm的芯片，由于高速光器件TOSA在长距离传输中色散代价损耗太大，有些芯片并不能满足要求，因此需要提前对芯片进行测试，以筛选出能够满足要求的芯片。

测试时，现有技术中首先要将芯片01放置于图1、图2所示的载体02上的凹槽03内，为了能放进去，凹槽03的尺寸通常大于芯片01的尺寸，即芯片01放入凹槽03后位置不确定，因此需要移动载体02，使芯片01对准上方的探针(图中未示出)，而后探针才能对芯片01加电进行测试，这导致测试的效率较低。

发明内容

本发明的实施例提供一种夹具，可解决现有技术中因芯片位置不确定而导致测试效率低的问题。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

一种夹具，包括：载体，所述载体包括用于承载工件的承载区；夹持组件，所述夹持组件包括第一夹持单元和第二夹持单元，所述第一夹持单元同时用于阻挡所述工件在所述承载区上朝互相垂直的第一方向和第二方向移动，所述第二夹持单元上开设有与所述承载区一一对应的缺口，每个所述缺口内均设有两个夹持部，其中一个所述夹持部用于阻挡相应承载区上的所述工件朝所述第一方向的反向移动，另一个所述夹持部用于阻挡相应承载区上的所述工件朝所述第二方向的反向移动；驱动组件，所述驱动组件与所述第二夹持单元连接，用于驱动所述第二夹持单元运动。

本发明实施例提供的夹具，由于所述载体包括用于承载工件的承载区；所述夹持组件包括第一夹持单元和第二夹持单元，所述第一夹持单元同时用于阻挡所述工件在所述承载区上朝互相垂直的第一方向和第二方向移动，所述第二夹持单元上开设有与所述承载区一一对应的缺口，每个所述缺口内均设有两个夹持部，其中一个所述夹持部用于阻挡相应承载区上的所述工件朝所述第一方向的反向移动，另一个所述夹持部用于阻挡相应承载区上的所述工件朝所述第二方向的反向移动；所述驱动组件与所述第二夹持单元连接，用于驱动所述第二夹持单元运动，因此当该夹具应用于芯片测试过程时，可先通过驱动组件驱动第二夹持单元向远离第一夹持单元的方向运动，以使芯片能够放入第一夹持单元和第二夹持单元之间，而后通过驱动组件驱动第二夹持单元向靠近第一夹持单元的方向运动，直至第一夹持单元能够同时阻挡芯片在承载区上朝第一方向和第二方向移动，且第二夹持单元能够同时阻挡芯片朝第一方向和第二方向的反向移动，即第一夹持单元和第二夹持单元共同将芯片夹紧，从而使芯片的位置确定且对准上方的探针，进而避免了通过移动载体来调整芯片的位置，也就提高了测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有技术中用于承载芯片的载体的示意图；

图2为图1的M部放大图；

图3为本发明实施例夹具的示意图；