[发明专利]参数调节方法及装置、显示系统有效
申请号: | 201710372206.0 | 申请日: | 2017-05-23 |
公开(公告)号: | CN107038993B | 公开(公告)日: | 2019-07-16 |
发明(设计)人: | 周晶晶;宗靖国;刘欢 | 申请(专利权)人: | 西安诺瓦电子科技有限公司 |
主分类号: | G09G3/32 | 分类号: | G09G3/32 |
代理公司: | 深圳精智联合知识产权代理有限公司 44393 | 代理人: | 邓铁华 |
地址: | 710075 陕西省西安市高新*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 参数 调节 方法 装置 显示 系统 | ||
1.一种参数调节方法,其特征在于,包括:
接收从显示屏控制器输入的场频信息,所述场频信息包含频段和偏移幅度;
根据所述场频信息查询内部遍历表,得到与所述场频信息相对应的目标组图像输出控制参数,其中所述内部遍历表包含多个场频信息和与所述多个场频信息分别对应的多组图像输出控制参数;
根据所述目标组图像输出控制参数进行配置参数更新。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述接收输入的场频信息包括:
接收输入的图像数据场包;
解析所述图像数据场包,得到所述场频信息。
3.根据权利要求1至2任一所述的方法,其特征在于,所述目标组图像输出控制参数包括:每个子场所包含基本单元数、PWM芯片每行占用的GCLK单元数、每场刷新次数、每个GCLK周期占用系统时钟数、倍频和显示长度中的部分或全部。
4.一种参数调节方法,其特征在于,包括:
实时检测输入视频源的场频;
根据实时检测到的场频得到场频信息,所述场频信息包含频段和偏移幅度;
将所述场频信息写入寄存器并封装至图像数据场包;
将所述图像数据场包发送出去以供显示控制卡根据所述图像数据场包的所述场频信息查询内部遍历表,得到与所述场频信息相对应的目标组图像输出控制参数,以及根据所述目标组图像输出控制参数进行配置参数更新。
5.一种参数调节装置,其特征在于,包括:
接收模块,用于接收从显示屏控制器输入的场频信息,所述场频信息包含频段和偏移幅度;
查询模块,用于根据所述场频信息查询内部遍历表,以得到与所述场频信息相对应的目标组图像输出控制参数,其中所述内部遍历表包含多个场频信息和与所述多个场频信息分别对应的多组图像输出控制参数;
更新模块,用于根据所述目标组图像输出控制参数进行配置参数更新。
6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述接收模块包括:
接收单元,用于接收输入的图像数据场包;
解析单元,用于解析所述图像数据场包,得到所述场频信息。
7.一种参数调节装置,其特征在于,包括:
检测模块,用于实时检测输入视频源的场频;
确定模块,用于根据实时检测到的场频得到场频信息,所述场频信息包含频段和偏移幅度;
封装模块,用于将所述场频信息写入寄存器并封装至图像数据场包;
发送模块,用于将所述图像数据场包发送出去以供显示控制卡根据所述图像数据场包的所述场频信息查询内部遍历表,得到与所述场频信息相对应的目标组图像输出控制参数,以及根据所述目标组图像输出控制参数进行配置参数更新。
8.一种显示系统,其特征在于,包括:显示屏控制器、显示控制卡和LED显示屏,所述显示控制卡连接在所述显示屏控制器和所述LED显示屏之间;
所述显示控制卡用于:接收从显示屏控制器输入的场频信息,根据所述场频信息查询内部遍历表以得到与所述场频信息相对应的目标组图像输出控制参数,根据所述目标组图像输出控制参数进行配置参数更新,以及基于更新后的配置参数输出图像数据至所述LED显示屏进行画面显示,其中所述内部遍历表包含多个场频信息和与所述多个场频信息分别对应的多组图像输出控制参数。
9.根据权利要求8所述的显示系统,其特征在于,所述显示屏控制器用于:实时检测输入视频源的场频,根据实时检测到的场频确定相对应的频段和偏移幅度以得到目标场频信息,以及将所述目标场频信息发送至所述显示控制卡。
10.根据权利要求8或9所述的显示系统,其特征在于,所述显示屏控制器还用于:接收上位机发送来的所述多个场频信息和与所述多个场频信息分别对应的所述多组图像输出控制参数并转发至所述显示控制卡进行保存,以得到所述内部遍历表。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安诺瓦电子科技有限公司,未经西安诺瓦电子科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710372206.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于测量相变的转变速率的方法和装置
- 下一篇:相变材料使用寿命测试系统