[发明专利]一种LED光电热特性的测试系统及其应用有效
申请号: | 201710366440.2 | 申请日: | 2017-05-23 |
公开(公告)号: | CN107015134B | 公开(公告)日: | 2019-08-09 |
发明(设计)人: | 孔繁敏;张宁 | 申请(专利权)人: | 山东大学 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01M11/02 |
代理公司: | 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 | 代理人: | 叶亚林 |
地址: | 250199 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 led 电热 特性 测试 系统 及其 应用 | ||
1.一种进行LED光电热特性测试的方法,基于一种LED光电热特性的测试系统,包括计算机、电源模块、电热测试模块和光学测试模块;计算机分别用与电源模块、电热测试模块和光学测试模块连接;所述电源模块还分别与电热测试模块和光学测试模块连接;所述电源模块包括电源电表和电源供应器;所述电热测试模块包括恒温腔、加热装置和温度控制器,恒温腔内设置有LED;所述光学测试模块包括积分球和光谱仪;所述电源电表分别与计算机和LED连接,计算机通过电源供应器与加热装置连接;所述温度控制器分别与加热装置和计算机连接;所述积分球分别与光谱仪和LED连接,所述光谱仪与计算机连接;
其特征在于,包括步骤如下:
1)将标准光源放置于积分球的LED灯座,接通标准光源的电源,对积分球进行校准;
2)将LED放入恒温腔中,接通电源点亮LED,测量LED正向电压-脉冲电流-LED发光温度-LED光谱数据关系;
A1、设置恒温腔温度,待LED发光温度与恒温腔温度平衡后,所述电源电表供给LED脉冲电流,测量电源电表发送的LED正向电压;依次增加脉冲电流的电流值,测量同一恒温腔温度下,不同脉冲电流对应的LED正向电压;设置下一个恒温腔温度;
A2、重复步骤A1直至达到恒温腔温度的上限,得到恒温腔温度-LED正向电压/脉冲电流数据关系;
A3、所述电源电表供给LED恒定电流,LED发出的光谱投入积分球内,光谱仪对不同时间点的LED光谱数据进行测量,得到LED光谱-LED正向电压/恒定电流的数据关系;
A4、将步骤A3得到的LED光谱-LED正向电压/恒定电流的数据关系与步骤A2测得的恒温腔温度-LED正向电压/脉冲电流数据关系进行比对,以“LED正向电压/恒定电流”与“LED正向电压/脉冲电流”相等为桥梁,得到同一恒定电流下,不同LED发光温度对应的LED光谱;
A5、待LED发光温度降回室温,增加供给LED的恒定电流,恒定电流的增量为50mA;
A6、重复步骤A3-A5,直至LED的恒定电流增加至700mA,根据步骤A4中得出的同一恒定电流下不同LED发光温度对应的LED光谱,得到LED正向电压-脉冲电流-LED发光温度-LED光谱的关系。
2.根据权利要求1所述的LED光电热特性测试的方法,其特征在于,所述步骤A3中,所述光谱仪分别对LED点亮后第5秒、第10秒、第15秒、第20秒、第25秒、第30秒、第35秒、第40秒、第45秒、第50秒、第60秒、第120秒、第180秒、第240秒、第300秒、第1800秒的LED光谱数据进行测量。
3.根据权利要求1所述的LED光电热特性测试的方法,其特征在于,所述恒温腔温度是指恒温腔中用于测试LED的温度,恒温腔温度的温度范围为30℃~120℃。
4.根据权利要求1所述的LED光电热特性测试的方法,其特征在于,所述步骤A1中,依次增加脉冲电流值至150mA、200mA、250mA、300mA、350mA、400mA、450mA、500mA、550mA、600mA、650mA、700mA。
5.根据权利要求1所述的LED光电热特性测试的方法,其特征在于,所述步骤A1中,通过计算机设置恒温腔温度;下一个恒温腔温度比当前的恒温腔温度高20℃;通过计算机测量电源电表发送的LED正向电压;通过计算机测量同一恒温腔温度下,不同脉冲电流对应的LED正向电压。
6.根据权利要求1所述的LED光电热特性测试的方法,其特征在于,所述步骤A3中,计算机控制所述电源电表供给LED恒定电流;计算机处理得到LED光谱-LED正向电压/恒定电流的数据关系;光谱仪对不同时间点的LED光谱数据进行测量,并将LED光谱数据发送给计算机进行处理,得到LED光谱-LED正向电压/恒定电流的数据关系;所述步骤A4中,计算机将步骤A3得到的LED光谱-LED正向电压/恒定电流的数据关系与步骤A2测得的恒温腔温度-LED正向电压/脉冲电流数据关系进行比对。
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