[发明专利]磁干扰检测装置和方法以及方位估算装置和方法

权利要求书

1.一种用于磁干扰检测的装置，所述装置包括：

传感器数据获得单元，被配置为获得从磁性传感器生成的磁性传感器数据及从非磁性传感器生成的非磁性传感器数据；

方位计算单元，被配置为基于所述磁性传感器数据计算第一方位并且基于所述非磁性传感器数据计算第二方位；

提取单元，被配置为提取所述第一方位与所述第二方位之间的差或相关性；

磁干扰检测单元，被配置为通过将所述差或所述相关性与阈值进行比较以检测磁干扰。

2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述差是历史偏差与所述第一方位与所述第二方位的偏差之间的差。

3.根据权利要求1所述的装置，其中，所述相关性是序列中所述第一方位与所述第二方位的匹配度或波形相似性。

4.根据权利要求1所述的装置，其中，所述提取单元提取合成特征，所述合成特征是将通过所述差确定的特征值项与通过所述相关性确定的降噪因子相乘得到的。

5.根据权利要求4所述的装置，其中，所述特征值项与所述差正相关，而所述降噪因子与所述相关性负相关。

6.根据权利要求3所述的装置，其中，所述匹配度或所述波形相似性是序列中所述第一方位与所述第二方位之间的相关性系数。

7.根据权利要求1所述的装置，其中，所述提取单元还被配置为计算特征，所述提取单元进一步包括：

偏差计算单元，被配置为计算所述第一方位与所述第二方位之间的偏差；

历史偏差更新单元，被配置为基于所述偏差更新所述历史偏差；

特征计算单元，被配置为基于所述偏差与所述历史偏差之间的差来计算特征。

8.根据权利要求7所述的装置，其中，所述历史偏差更新单元通过移动平均法或统计方法更新所述历史偏差。

9.根据权利要求1所述的装置，其中，所述提取单元还被配置为计算特征，所述提取单元进一步包括：

方位平滑单元，被配置为平滑所述第一方位及所述第二方位；

序列缓冲器更新单元，被配置为更新序列缓冲器以保存所述第一方位及所述第二方位；

特征单元，被配置为使用所述缓冲器中的传感器数据计算特征。

10.一种用于磁干扰检测的方法，所述方法包括：

传感器数据获得步骤，用于获得从磁性传感器生成的磁性传感器数据及从非磁性传感器生成的非磁性传感器数据；

方位计算步骤，用于基于所述磁性传感器数据计算第一方位并且基于所述非磁性传感器数据计算第二方位；

方位特征提取步骤，用于提取特征，其中所述特征为序列中所述第一方位与所述第二方位之间的变化差或所述第一方位与所述第二方位之间的相关性；

磁干扰检测步骤，用于通过将所述差或所述相关性与阈值进行比较以检测磁干扰。

11.根据权利要求10所述的方法，其中，所述差是历史偏差与所述第一方位与所述第二方位的偏差之间的差。

12.根据权利要求10所述的方法，其中，所述相关性是序列中所述第一方位与所述第二方位的匹配度或波形相似性。

13.根据权利要求10所述的方法，其中，所述提取步骤提取合成特征，所述合成特征是将通过所述差确定的特征值项与通过所述相关性确定的降噪因子相乘得到的。

14.根据权利要求13所述的方法，其中，所述特征值项与所述差正相关，而所述降噪因子与所述相关性负相关。