[发明专利]辐照实验板、监控终端、ASIC芯片辐照实验系统

权利要求书

1.一种辐照实验板，应用于专用集成电路ASIC芯片辐照实验系统，所述辐照实验板分别与所述系统中的监控终端和智能电源连接，其特征在于，包括：辐照区域和控制区域；

所述辐照区域，用于放置所述ASIC芯片；

所述控制区域包括：微控制单元MCU、通信接口、测试存储器和配置存储器，所述MCU分别与所述通信接口、所述测试存储器和所述配置存储器连接；

所述MCU，用于通过所述通信接口接收所述监控终端发送的测试命令，根据所述测试命令对所述ASIC芯片进行辐照实验测试，并通过所述通信接口将测试结果发送给所述监控终端；其中，所述监控终端用于控制所述辐照实验板对专用ASIC芯片进行抗辐照实验；

所述测试存储器，用于存储测试所述ASIC芯片的测试程序和所述MCU的启动配置信息；

所述配置存储器，用于存储配置所述MCU的配置程序；

其中，所述测试命令包括：单粒子翻转实验命令、单粒子闩锁实验命令和总剂量鉴定实验命令；所述单粒子翻转实验命令包括：实验模式切换命令；所述MCU具体用于根据所述模式切换命令，在对ASIC芯片进行单粒子辐照前，切换所述ASIC芯片的实验模式，所述实验模式包括：测试模式和功能模式；所述MCU具体用于：根据所述实验模式切换命令，在对ASIC芯片进行辐照前，将所述ASIC芯片的实验模式切换为功能模式；提取所述ASIC芯片内部的功能单元中的数据，作为对照测试数据；辐照结束后，回读所述ASIC芯片内部的功能单元中的数据，作为回读测试数据；将所述回读测试数据与所述对照测试数据进行比较，统计翻转数，并将所述翻转数传输给所述监控终端；所述MCU通过EJTAG端口配置所述ASIC芯片的工作模式。

2.根据权利要求1所述的辐照实验板，其特征在于，所述测试命令还包括：功能单元选择命令，所述MCU具体用于：在辐照实验过程中，根据所述功能单元选择命令控制所述ASIC芯片各功能单元的电源或时钟，选择待测试的功能单元。

3.根据权利要求1所述的辐照实验板，其特征在于，所述单粒子翻转实验命令还包括：测试序列命令；所述MCU具体用于：

根据所述实验模式切换命令，在对ASIC芯片进行辐照前，将所述ASIC芯片的实验模式切换为测试模式，所述测试模式对应的单粒子翻转实验包括内部触发器数据扫描测试和/或内部存储单元数据环回测试；

根据所述测试序列命令生成对应的测试序列数据，并将所述测试序列数据写入所述ASIC芯片；

辐照结束后，根据所述单粒子翻转实验命令回读所述ASIC芯片中与所述测试序列数据对应的数据，作为回读序列数据；

将所述回读序列数据与所述测试序列数据进行比较，统计翻转数，并将所述翻转数传输给所述监控终端。

4.根据权利要求1或2所述的辐照实验板，其特征在于，所述MCU具体用于：

在对ASIC芯片进行辐照前，根据所述单粒子闩锁实验命令控制所述ASIC芯片内部的功能单元的初始工作状态；

在辐照过程中，读取所述ASIC芯片内部的功能单元的实时工作状态和电信号，并将所述实时工作状态和电信号传输给所述监控终端。

5.根据权利要求1所述的辐照实验板，其特征在于，所述MCU具体用于：

在对ASIC芯片进行辐照前，根据所述总剂量鉴定实验命令控制所述ASIC芯片分别处于不同的电源偏置模式；

在每个电源偏置模式对应的总剂量辐照结束后，根据所述总剂量鉴定实验命令将所述ASIC芯片设置为正常工作模式，并读取所述ASIC芯片内部各功能单元的工作状态；

将所述ASIC芯片各电源偏置模式下的所述各功能单元的工作状态传输给所述监控终端。