[发明专利]近场远场多功能测试系统在审

专利信息
申请号: 201710357209.7 申请日: 2017-05-19
公开(公告)号: CN106970272A 公开(公告)日: 2017-07-21
发明(设计)人: 阳安源 申请(专利权)人: 四川莱源科技有限公司
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610000 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 近场 多功能 测试 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种扫频源,具体涉及近场远场多功能测试系统。

背景技术

在各行各业中,尤其是电子领域,各种各样测量装置种类繁多。一体化室外单元是卫星电视接收系统的重要组成部分,其质量优劣直接影响到卫星电视接收系统的收视效果。传统的,馈源普遍采用圆形波导,且口径大小不统一,这给波导法测量带来了极大困难。远场测量系统是在一个小型微波暗室中建立收、发装置,被测一体化室外单元置于接收装置上,发射装置安装标准发射喇叭。天线近场测量系统是一套在中心计算机控制下进行天线近场扫描、数据采集、测试数据处理及测试结果显示与输出的自动化测量系统。整个天线近场测试系统由硬件分系统和软件分系统两大部分构成。硬件分系统又可进一步分为测试暗室子系统-包括无反射测试室及附属机构,采样架子系统-包括多轴采样架及多轴步进电机、多轴运动控制器、伺服驱动器、近场测试探头、工业控制计算机及外设等。

其中,近场测试的单次测量结果没有意义,需要在相同设置下测量两次,通过两次结果的差值来判断改善效果,但是可重复性差,对人员素质要求较高;测量结果即EUT真实数据,也可以用两次测试结果的差值来判断改善效果,但是费用昂贵。两种测试方法在单独测试的时候各有利弊。

发明内容

本发明现有技术中存在的问题是近场测试的单次测量结果没有意义,需要在相同设置下测量两次,通过两次结果的差值来判断改善效果,但是可重复性差,对人员素质要求较高;测量结果即EUT真实数据,也可以用两次测试结果的差值来判断改善效果,但是费用昂贵。两种测试方法在单独测试的时候各有利弊,目的在于提供了近场远场多功能测试系统,能够同时进行近场与远场测试,结合了两者的优点,同时去除了两者某些方面的缺点,可以提高测试的精度。

本发明通过下述技术方案实现:

近场远场多功能测试系统,包括微波信号源、双圆极化喇叭天线、无反射暗箱、控制箱、计算机、近场测试设备、测试接收机,所述无反射暗箱的外壳为木质材料,中间层为铜质金属板,内层为角锥吸波泡棉,所述测试接收机和计算机安装在控制箱内,计算机和控制箱均与测试接收机相连,所述近场测试设备设置在无反射暗箱的上方,近场测试设备也与测试接收机相连,所述无反射暗箱下方连有移动装置,所述移动装置可带动无反射暗箱进行移动。

本发明的测试系统,能够同时进行近场与远场测试,结合了两者的优点,同时去除了两者某些方面的缺点,可以提高测试的精度。其中,近场测试设备设置在无反射暗室上,无反射暗室可以通过移动设备不断地进行移动,这样可以不断的调节无反射暗室和近场测试设备与信号源之间的距离,使得探头可以采集不同点的数据,在同一点采集远场和近场测试数据,然后结合远场测试结果进行对比分析,大大的提高了测试精度,可以很好的完场测试需求。控制箱和计算机上连接有频谱分析仪后,能分析频率的变化,便得出待测物的交叉极化隔离度这项特性指标,便于自动控制。无反射暗箱的外壳为木质材料,中间层为铜质金属板,内层为角锥吸波泡棉,材料吸收无线电波的效果好,这种特殊的箱体层使得入射的电磁波被最大限度地吸收,最小限度地反射,并且在室内的某一部分空间能构成一个接近″自由空间条件″的无回波区域,成本低、体积小,易维护。箱体重量及占地面积大幅下降,为大规模生产提供了较好的实现方式,同时近场测试装置也一同设置在无反射暗箱上,实现了系统的一体化,可以方便的进行测试系统的搬迁。

所述测试接收机频谱仪或网络分析仪。

所述近场测试设备包括支撑结构、拱环、电箱、多个射频辐射信号采样探头、抱杆、载物架、转台、伺服电机,射频辐射信号采样探头按照一定角度间隔均匀设置在拱环上,拱环固定在支撑结构上,可以显著提高测试效率、测量精度,同时大大节约了场地范围,也提升了操作的便利性。

所述微波信号源与微无反射暗箱的垂直距离为3.0-3.5m。

所述无反射暗箱的箱体的体积为1.5米×1.5米×1.5米。

本发明与现有技术相比,具有如下的优点和有益效果:

1、本发明近场远场多功能测试系统,能够同时进行近场与远场测试,结合了两者的优点,同时去除了两者某些方面的缺点,可以提高测试的精度。其中,近场测试设备设置在无反射暗室上,无反射暗室可以通过移动设备不断地进行移动,这样可以不断的调节无反射暗室和近场测试设备与信号源之间的距离,使得探头可以采集不同点的数据,在同一点采集远场和近场测试数据,然后结合远场测试结果进行对比分析,大大的提高了测试精度,可以很好的完场测试需求;

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