[发明专利]用于测量PT二次回路压降与负荷的电路结构及测量方法

权利要求书

1.一种用于测量PT二次回路压降与负荷的电路结构的测量方法，它包括压降消除装置，压降消除装置输入端与PT二次回路连接，压降消除装置输出端与电能表连接；其特征在于：在压降消除装置的输入端设置有第一电压测量PT1模块和第一电流测量CT1模块，第一电压测量PT1模块与第一AD转换模块连接，第一AD转换模块与第一电压、相位检测模块连接；第一电流测量CT1模块与第二AD转换模块连接，第一电压、相位检测模块和第二AD转换模块分别与CPU模块连接；在压降消除装置的输出端设置有第二电压测量PT2模块和第二电流测量CT2模块，第二电压测量PT2模块与第四AD转换模块连接，第四AD转换模块与第二电压、相位检测模块连接；第二电流测量CT2模块与第三AD转换模块连接，第三AD转换模块和第二电压、相位检测模块分别与CPU模块连接；

所述测量方法，其特征在于：它包括：

压降消除模式下回路压降与负荷测量：压降装置投入运行且正常工作时，通过现场手动或远程指令控制CPU模块测量PT二次回路压降与负荷；在同一时标下第一电压测量PT1模块测得一组电压向量U_I, 第二电压测量PT2模块测得一组电压向量U_O，将电压向量U_I与U_O经A/D转换后在电压幅值与相位检测模块中进行电压幅值和电压相位计算，得出压降消除模式下PT二次回路首端与回路末端与PT输出端电压向量的比差、角差、电压向量差；同时，第一电流测量CT1模块测量到PT二次回路压降消除装置前端电流I_I，第二电流测量CT2模块测量PT二次回路压降消除装置后端电流I_O，由V_I*I_I计算得到PT二次回路压降消除装置前端负荷，V_I为U_I幅值；由V_O*I_O计算得到PT二次回路压降消除装置后端负荷，V_O为U_O幅值；

它还包括：

原状态模式下PT二次回路压降与负荷测量：压降装置退出运行时，现场手动或远程指令控制CPU模块测量原PT二次回路压降与负荷；在同一时标下电压第一电压测量PT1模块测得一组电压向量U_I, 第二电压测量PT2模块测得一组电压向量U_O，将电压向量U_I与U_O经A/D转换后在电压幅值与相位检测模块中进行电压幅值、电压相位计算，得出原PT二次回路首端与回路末端与PT输出端电压向量的比差、角差、电压向量差；同时，第一电流测量CT1模块测量到PT二次回路电流I_I，由V_I*I_I计算得到PT二次回路负荷。

2.根据权利要求1所述的一种用于测量PT二次回路压降与负荷的电路结构的测量方法，其特征在于：CPU模块与显示模块连接。

3.根据权利要求1所述的一种用于测量PT二次回路压降与负荷的电路结构的测量方法，其特征在于：CPU模块与通讯模块连接；通讯模块与系统主站连接。

4.根据权利要求1所述的一种用于测量PT二次回路压降与负荷的电路结构的测量方法，其特征在于：所述压降消除装置为基于电压跟随器原理的压降消除装置。

5.根据权利要求1所述的用于测量PT二次回路压降与负荷的电路结构的测量方法，其特征在于：CPU模块采集到U_I与U_O，I_I与I_O后实现对PT二次回路的监测。