[发明专利]电工用再生铜杆性能的评估方法有效

专利信息
申请号: 201710343862.8 申请日: 2017-05-16
公开(公告)号: CN107179313B 公开(公告)日: 2020-03-24
发明(设计)人: 姚大伟;张远望;袁德华 申请(专利权)人: 上海电缆研究所有限公司
主分类号: G01N21/67 分类号: G01N21/67
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 夏怡珺
地址: 200093 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 工用 再生 性能 评估 方法
【权利要求书】:

1.一种电工用再生铜杆性能的评估方法,其特征在于:

测定待测铜杆中各个元素的质量百分数;将所述待测铜杆制备成金相试样,测定该金相试样的晶粒截距平均值;测定所述待测铜杆的表面维氏硬度;

当所述待测铜杆中各个元素质量百分数符合预设的电解铜杆元素质量百分数的标准,且所述待测铜杆制备成的金相试样的晶粒截距平均值在预设的电解铜杆制备成的金相试样的晶粒截距平均值的范围内,且所述待测铜杆的表面维氏硬度在预设的电解铜杆的表面维氏硬度的范围内,则所述待测铜杆为电解铜杆;否则,所述待测铜杆为电工用再生铜杆;

所述预设的电解铜杆元素质量百分数的标准为:所述待测铜杆中,氧元素的质量百分数小于等于0.045%,除了氧元素和铜元素以外的任一元素的质量百分数小于等于0.003%,铜元素和银元素的质量百分数相加大于99.95%;

所述预设的电解铜杆制备成的金相试样的晶粒截距平均值的范围为:所述待测铜杆的金相试样处于退火状态时,晶粒截距平均值大于13;

所述预设的电解铜杆的表面维氏硬度的范围为:所述待测铜杆的金相试样处于退火状态时,表面维氏硬度小于85。

2.根据权利要求1所述的电工用再生铜杆性能的评估方法,其特征在于:采用氮氧分析仪测定所述待测铜杆中氧元素的质量百分数。

3.根据权利要求1所述的电工用再生铜杆性能的评估方法,其特征在于:采用全谱直读等离子体光谱仪测定所述待测铜杆中除氧元素以外的其它元素的质量百分数。

4.根据权利要求1所述的电工用再生铜杆性能的评估方法,其特征在于:所述待测铜杆的金相试样处于退火状态时,晶粒截距平均值采用金属平均晶粒度测定方法GB/T6394-2002中的截点法测定。

5.根据权利要求4所述的电工用再生铜杆性能的评估方法,其特征在于:所述待测铜杆的金相试样处于退火状态时,表面维氏硬度的测试是采用显微维氏硬度计在所述待测铜杆的截面上,负载为100g,加载时间为10s。

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