[发明专利]一种面板灰尘过滤方法及装置

权利要求书

1.一种面板灰尘过滤方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：

步骤S1，对N+M块面板进行缺陷检测，获取面板缺陷的位置数据和特征数据，得到面板历史缺陷信息,其中N＝1，M1，所述面板为黑底液晶屏模式；

步骤S2，对当前第n块检测面板上表面灰尘做过滤操作；根据面板历史缺陷信息，对当前第n块检测面板检测到的缺陷判断是否为下表面灰尘，对灰尘进行过滤，其中1＝n＝N；

步骤S3，将当前检测面板的缺陷判断数据更新到面板历史缺陷信息。

2.如权利要求1所述的面板灰尘过滤方法，其特征在于，所述步骤S2中，根据面板历史缺陷信息，对当前检测面板检测到的缺陷判断是否为下表面灰尘，具体包括：

步骤S21，判断所述检测到的缺陷是否为暗点或者暗斑，如果是暗点或者暗斑，进入S22，如果不是暗点或者暗斑，判断为非灰尘；

步骤S22，统计所述检测到的缺陷在当前面板检测画面中出现的画面数量，是否等于3个或大于3个，是则进入S23，否则判断为非灰尘；

步骤S23，判断所述检测到的缺陷在历史缺陷信息中是否存在位置相近、画面相同的缺陷，是则进入S24,否则判断为非灰尘；

步骤S24，判断所述检测到的缺陷与历史缺陷信息中的相近位置、画面相同缺陷在对比度、面积、形状方面的差异特征值是否均小于阈值，是则进入步骤S25,否则判断为非灰尘；

步骤S25，将缺陷标记为下表面灰尘。

3.如权利要求1所述的面板灰尘过滤方法，其特征在于，在步骤S3之后，所述方法还包括：修正面板历史缺陷信息，具体过程为：

利用N+M块面板的缺陷数据作为面板历史缺陷信息，判断第n块面板的缺陷，修正面板历史缺陷信息中的第n块面板的缺陷数据。

4.一种面板灰尘过滤装置，其特征在于，所述装置包括：

面板历史缺陷信息获取单元，用于对N+M块面板进行缺陷检测，获取面板缺陷的位置数据和特征数据，得到面板历史缺陷信息，所述面板为黑底液晶屏模式；

灰尘过滤单元，用于对当前第n块检测面板上表面灰尘做过滤操作；根据面板历史缺陷信息，对当前第n块检测面板检测到的缺陷判断是否为下表面灰尘，对灰尘进行过滤，其中1＝n＝N；

面板历史缺陷信息更新单元，用于将当前检测面板的缺陷判断数据更新到面板历史缺陷信息。

5.如权利要求4所述面板灰尘过滤装置，其特征在于，所述灰尘过滤单元包括：

灰尘判断单元，该单元用于：

判断所述检测到的缺陷是否为暗点或者暗斑；

统计所述检测到的缺陷在当前面板检测画面中出现的画面数量，是否等于3个或大于3个；

判断所述检测到的缺陷在历史缺陷信息中是否存在位置相近、画面相同的缺陷；

判断所述检测到的缺陷与历史缺陷信息中的相近位置、画面相同缺陷在对比度、面积、形状方面的差异特征值是否均小于阈值；

将缺陷标记为下表面灰尘。

6.如权利要求4所述面板灰尘过滤装置，其特征在于，所述装置还包括：面板历史缺陷信息修正单元，该单元用于：利用N+M块面板的缺陷数据作为面板历史缺陷信息，判断第n块面板的缺陷，修正面板历史缺陷信息中的第n块面板的缺陷数据。