[发明专利]一种基于数字控制的电子元器件的使用寿命测试仪

说明书

本发明公开了一种基于数字控制的电子元器件的使用寿命测试仪，涉及检测设备领域，包括检测箱和载物装置，检测箱上设有电控柜、老化柜和恒温恒湿柜，老化柜上设有第一圆形入口，恒温恒湿柜上设有第二圆形入口，载物装置包括底板和设于底板上方的支撑台。通过设置在检测箱一侧的载物装置利用数字控制系统将待检测的电子元器件将按预定的要求分别从第一圆形入口和第二圆形入口进入检测箱，第一圆形入口对应的老化柜为待测的电子元器件提供紫外照射、干燥及气流等不同的外部环境，第二圆形入口对应的恒温恒湿柜为待测电子元器件提供预设的温度和湿度；数字控制系统的智能应用有效的为待测电子元器件提供最佳的测试环境。

技术领域

本发明涉及检测设备领域，尤其涉及一种基于数字控制的电子元器件的使用寿命测试仪。

背景技术

电子产品作为现在生活的必不可缺的一部分，扮演了一个重要的角色。为了保证电子产品使用的稳定性，必须保证组成电子产品的电子元器件具有较长的使用寿命。由于电子产品的使用环境不一，因此需要提前测试出电子元器件在某些环境下的使用寿命，进而得出电子产品的使用寿命或者依据检测结果优化电子产品的组成。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于数字控制的电子元器件的使用寿命测试仪，可检测电子元器件在模拟老化和模拟恒温恒湿条件下的老化状态。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

一种基于数字控制的电子元器件的使用寿命测试仪，包括检测箱和载物装置，所述检测箱上设有电控柜、老化柜和恒温恒湿柜，所述老化柜上设有第一圆形入口，所述恒温恒湿柜上设有第二圆形入口，所述第一圆形入口位于所述第二圆形入口的正下方，所述载物装置位于所述检测箱设有所述第一圆形入口的一侧，所述载物装置包括底板和设于所述底板上方的支撑台，所述底板与所述支撑台之间设有升降装置，所述升降装置包括第一升降杆和第二升降杆，所述第一升降杆与所述第二升降杆交叉设置，所述第一升降杆与所述第二升降杆铰接，所述第一升降杆的底部与所述底板滑动连接，所述第一升降杆的顶部与所述支撑台滑动连接，所述第二升降杆的底部与所述底板滑动连接，所述第二升降杆的顶部与所述支撑台滑动连接，所述升降装置还包括第一气缸和第二气缸，所述第一气缸与所述第一升降杆之间设有第一连杆，所述第一连杆的一端与所述第一气缸的活塞杆转动连接，所述第一连杆的另一端与所述第一升降杆转动连接，所述第二气缸与所述第二升降杆之间设有第二连杆，所述第二连杆的一端与所述第二气缸的活塞杆转动连接，所述第二连杆的另一端与所述第二升降杆转动连接，所述支撑台上设有导轨和驱动装置，所述导轨上设有活动板，所述活动板与所述导轨滑动连接，所述驱动装置与所述活动板驱动连接，所述活动板上设有输送杆，所述输送杆的一端与所述活动板相连，所述输送杆的另一端设有载物圆筒，所述载物圆筒上设有置物开口，所述载物圆筒的直径小于所述第一圆形入口的内径，所述载物圆筒的直径小于所述第二圆形入口的内径。

具体地，将待测的电子元器件放置在载物圆筒内，升降装置将载物圆筒升高到与第一圆形入口或者第二圆形入口对应的高度。驱动装置带动活动板运动，活动板带动输送杆运动并将载物圆筒通过第一圆形入口送入老化柜内或者通过第二圆形入口送入恒温恒湿柜，通过电控柜的控制可以实现自动在各种条件下进行测试。第一气缸和第二气缸作为升降装置的动力源对第一升降杆和第二升降杆施力，第一气缸和第二气缸受力后由于交叉铰接设置的原因二者之间发生角度的变化，进而实现将支撑台上下移动。

作为优选，所述支撑台与所述导轨之间设有导板，所述导板与所述支撑台之间设有立板。

作为优选，其特征在于，所述驱动装置包括第一电机、第一驱动轮、第二驱动轮和传送带，所述第一电机的输出轴与所述第一驱动轮转动连接，所述第二驱动轮与所述导板转动连接，所述第一驱动轮和所述第二驱动轮与所述传送带传动连接，所述传送带与所述活动板相连，所述活动板与所述传送带的连接点位于所述第一驱动轮与所述第二驱动轮之间。