[发明专利]一种基于响应混叠性度量的测试激励与测点的协同优化方法

权利要求书

1.一种基于响应混叠性度量的测试激励与测点的协同优化方法，其特征在于：所述基于响应混叠性度量的测试激励与测点的协同优化方法包括以下步骤：

步骤一：在全频带范围获取电路N个测点M次正常工作的特征信息以及M次由故障元件H引起的故障状态下的特征信息，即得到M个正常样本和M个故障样本；

步骤二：根据特征信息得到在全频带下M个正常样本和M个故障样本对应的正态分布曲线，正常样本的正态分布曲线的均值μ₂和标准差σ₂，故障样本的正态分布曲线的均值μ₁和标准差σ₁；

步骤三：采用混叠性度量函数计算全频带的正常样本与故障样本之间的响应混叠性；

具体过程为：

步骤三一：判断正常样本和故障样本的正态分布曲线的位置，求取正常状态的正态分布曲线与故障状态的正态分布曲线交点的横坐标值，即比较μ₂和μ₁的大小，当μ₁>μ₂时，将交点的横坐标记为x₁，当μ₁<μ₂时，将交点的横坐标记为x₀；

步骤三二：根据交点横坐标的值，计算正常样本的正态分布曲线和故障样本正态分布曲线的重叠区面积S，面积S表示正常状态和关键故障状态之间的响应混叠性，公式如下：

步骤三三：计算待测电路N个测点在全频带下的响应混叠性度量函数D(N，f)，计算公式为：

D(N，f)＝min(S)；

步骤四：根据步骤三计算得到的响应混叠性，选择使响应混叠性度量函数达到最小值的测试激励和测点。

2.根据权利要求1所述的一种基于响应混叠性度量的测试激励与测点的协同优化方法，其特征在于：所述步骤一中特征信息为每个测点的电压值。

3.根据权利要求2所述的一种基于响应混叠性度量的测试激励与测点的协同优化方法，其特征在于：所述步骤二中：根据特征信息得到在全频带下M个正常样本和M个故障样本对应的正态分布曲线，以及正态分布的均值和标准差的具体过程为：

根据M个正常样本和M个故障样本的电压值，采用Matlab数学工具箱中的normfit函数，获得M个正常样本和M个故障样本对应的正态分布曲线以及正态分布的均值和方差；得到的正态分布曲线横坐标为样本的电压值，纵坐标为样本电压值的概率密度分布。