[发明专利]一种发光二极管外延片的制造方法有效

专利信息
申请号: 201710334928.7 申请日: 2017-05-12
公开(公告)号: CN107331738B 公开(公告)日: 2019-12-06
发明(设计)人: 金雅馨;万林;胡加辉 申请(专利权)人: 华灿光电股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/06
代理公司: 11138 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 代理人: 徐立<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 430223 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 发光二极管 外延 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种发光二极管外延片的制造方法,其特征在于,所述制造方法包括:

提供一衬底;

在所述衬底上依次生长缓冲层、成核层、未掺杂氮化镓层、第二N型氮化镓层、低温改善层、第一N型氮化镓层、多量子阱层和P型氮化镓层;

其中,所述缓冲层为二维生长的氮化镓层,所述低温改善层为未掺杂的GaN层,且所述低温改善层的生长温度为500~750℃,所述缓冲层的生长温度与所述低温改善层的生长温度相同,所述低温改善层的厚度为50~200埃。

2.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,所述第二N型氮化镓层的生长条件与所述第一N型氮化镓层的生长条件相同,所述生长条件包括生长温度、生长压力和Ⅴ/Ⅲ比。

3.根据权利要求2所述的制造方法,其特征在于,所述第二N型氮化镓层的厚度与所述第一N型氮化镓层的厚度相同。

4.根据权利要求1~3任一项所述的制造方法,其特征在于,所述低温改善层的生长温度为600℃。

5.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,所述低温改善层的厚度为100~150埃。

6.根据权利要求1~3任一项所述的制造方法,其特征在于,所述低温改善层的生长压力为50~760torr。

7.根据权利要求1~3任一项所述的制造方法,其特征在于,所述低温改善层的Ⅴ/Ⅲ比为300~3000。

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