[发明专利]量子成像方法、量子成像系统在审

专利信息
申请号: 201710334268.2 申请日: 2017-05-12
公开(公告)号: CN106932897A 公开(公告)日: 2017-07-07
发明(设计)人: 张渊明 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: G02B27/00 分类号: G02B27/00;G02B27/10
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 代理人: 汪源,陈源
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 量子 成像 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种量子成像方法,其特征在于,包括:

产生两束混沌激光;

将两束所述混沌激光分为第一信号光和第二信号光,并将所述第一信号光照射物体;

将照射物体后的第一信号光与所述第二信号光进行关联测量,得到关联结果;

根据所述关联结果,获取物体的相位信息;

根据所述物体的相位信息,获得所述物体的图像。

2.根据权利要求1所述的量子成像方法,其特征在于,所述根据所述关联结果,获取物体的相位信息包括:

根据所述关联结果,通过贝叶斯分析算法获取物体的相位信息。

3.根据权利要求1所述的量子成像方法,其特征在于,所述根据所述物体的相位信息,获得所述物体的图像包括:

根据所述物体的相位信息,利用数字信号处理技术,获得所述物体的图像。

4.一种量子成像系统,其特征在于,包括:

激光器,用于产生两束混沌激光;

第一分光装置,用于将所述两束混沌激光分为第一信号光和第二信号光;

光学镜,用于对所述第一信号光进行反射,以使所述第一信号光照射物体后射向第二分光装置;用于对所述第二信号光进行反射,以使所述第二信号光射向所述第二分光装置;

第二分光装置,用于将所述第二信号光与照射物体后的所述第一信号光进行关联测量,得到关联结果;

第一检测装置,用于根据所述关联结果,获取所述物体的相位信息,并将所述物体的相位信息发送至数据处理装置;

第二检测装置,用于获取所述第二信号光的相位信息,并将所述第二信号光的相位信息发送至所述数据处理装置;

数据处理装置,用于根据所述物体的相位信息,获得所述物体的图像。

5.根据权利要求4所述的量子成像系统,其特征在于,所述光学镜包括:第一光学镜和第二光学镜;

第一光学镜,用于对所述第一信号光进行反射,以使所述第一信号光照射物体后射向第二分光装置;

第二光学镜,用于对所述第二信号光进行反射和透射,以使部分所述第二信号光射向所述第二分光装置,另一部分所述第二信号光射向所述第二检测装置。

6.根据权利要求4或5所述的量子成像系统,其特征在于,所述第一检测装置具体用于根据所述关联结果,利用贝叶斯分析算法,获取所述物体的相位信息,并将所述物体的相位信息发送至所述数据处理装置。

7.根据权利要求4或5所述的量子成像系统,其特征在于,所述数据处理装置,具体用于根据所述物体的相位信息,利用数字信号处理技术,获得所述物体的图像。

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