[发明专利]篡改检测装置

权利要求书

1.一种电子篡改检测装置，其特征在于，包括篡改回路和被布置为所述篡改回路的部分的可变形组件，所述篡改回路包括电导体，其中所述组件为压电或压电陶瓷装置，所述组件包括电导体，其中所述组件的塑性变形指示所述篡改回路已被破坏，其中所述塑性变形致使所述组件变成准永久性变形；以及

集成电路(IC)，所述IC被配置并布置成有所述篡改回路以检测指示响应于所述篡改回路被破坏的篡改的电流变化，其中，所述IC被进一步配置并布置成当所述篡改回路响应于所述塑性变形被随后维修时检测篡改，并且其中所述组件被配置并布置成响应于所述篡改而塑性变形，所述塑性变形致使所述组件从初始变形状态转变为准永久性变形状态。

2.根据权利要求1所述的篡改检测装置，其特征在于，所述电导体包括传导性电线，所述传导性电线耦合到所述IC，其中，所述篡改回路被进一步配置并布置成响应于变形组件的所述准永久性变形而破坏。

3.根据权利要求1所述的篡改检测装置，其特征在于，所述篡改检测装置被配置成通过感测由所述变形造成的欧姆电阻的改变来检测所述组件的所述变形。

4.根据权利要求3所述的篡改检测装置，其特征在于，另外包括感测电路，所述感测电路被配置成感测欧姆电阻的所述改变。

5.根据权利要求4所述的篡改检测装置，其特征在于，所述感测电路为应变计。

6.一种制造电子篡改检测装置的方法，其特征在于，提供篡改回路和可变形组件，所述篡改回路包括传导性电线，其中所述组件为压电或压电陶瓷装置，其中所述压电或压电陶瓷装置的塑性变形指示所述篡改回路已被破坏，其中所述塑性变形致使所述压电或压电陶瓷装置变成准永久性变形；以及

提供集成电路(IC)，所述IC被配置并布置成有所述篡改回路以检测指示响应于所述篡改回路被破坏的篡改的电流变化，其中，所述IC被进一步配置并布置成当所述篡改回路响应于所述塑性变形被随后维修时检测篡改。