[发明专利]薄膜晶体管及其制造方法、阵列基板以及显示装置有效
申请号: | 201710330483.5 | 申请日: | 2017-05-11 |
公开(公告)号: | CN106935659B | 公开(公告)日: | 2021-01-22 |
发明(设计)人: | 陈江博;宋泳锡;孙宏达;王国英;刘威 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;H01L21/336;H01L29/423;H01L27/12 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 牛南辉;李峥 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 薄膜晶体管 及其 制造 方法 阵列 以及 显示装置 | ||
1.一种薄膜晶体管,包括:设置在衬底基板上的有源层和设置在所述有源层上的栅极叠层,其中,所述栅极叠层包括:
设置在所述有源层上的栅极绝缘层;
设置在所述栅极绝缘层上的栅极电极;
设置在所述栅极电极上的覆盖层,所述覆盖层比所述栅极电极更容易捕获氧原子,其中所述覆盖层包括含镓氧化物,并且其中所述含镓氧化物是氧缺乏的。
2.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其中,所述含镓氧化物包括下列材料的至少一种:IGZO、GZO、IGO、氧化镓、或其组合。
3.根据权利要求1-2中任一项所述的薄膜晶体管,其中,所述覆盖层的材料和所述有源层的材料相同。
4.根据权利要求1-2中任一项所述的薄膜晶体管,其中,所述薄膜晶体管还包括:设置在所述覆盖层上的介质层,其中,所述介质层覆盖所述有源层的上表面。
5.根据权利要求4所述的薄膜晶体管,其中,所述薄膜晶体管还包括
设置在所述介质层上的第一接触;
以及位于所述介质层中的第一孔,
其中,所述第一接触经由所述第一孔连接到薄膜晶体管的源/漏极区域。
6.根据权利要求5所述的薄膜晶体管,其中,所述薄膜晶体管还包括:
位于所述介质层中的第一布线,所述第一布线具有与所述栅极叠层相同的结构,所述第一布线的顶表面高于所述有源层的顶表面;
设置在所述介质层上的第二接触;
设置在所述介质层中的第二孔,
其中,所述第二接触经由所述第二孔连接到所述第一布线。
7.根据权利要求6所述的薄膜晶体管,其中,所述薄膜晶体管还包括:
设置在所述有源层和所述衬底基板之间的遮光层,以阻挡来自所述有源层下方的光进入所述有源层;
第二布线,所述第二布线与所述遮光层位于同一层;
设置在所述介质层上的第三接触;
穿过所述介质层的第三孔,
其中,所述第三接触经由所述第三孔连接到所述第二布线。
8.根据权利要求7所述的薄膜晶体管,其中,所述薄膜晶体管还包括:设置在所述有源层和所述衬底基板之间的缓冲层,
其中,所述缓冲层覆盖所述遮光层的上表面、所述第二布线的上表面和所述衬底基板的暴露的上表面;
设置在第一接触、第二接触和第三接触上的钝化层。
9.一种阵列基板,包括根据权利要求1-8中任一项所述的薄膜晶体管。
10.一种显示装置,包括根据权利要求9所述的阵列基板。
11.一种薄膜晶体管的制造方法,包括:
在衬底基板上形成有源层;
在所述有源层上形成栅极叠层,
其中,所述栅极叠层包括:
设置在所述有源层上的栅极绝缘层;
设置在所述栅极绝缘层上的栅极电极;
设置在所述栅极电极上的覆盖层,所述覆盖层比所述栅极电极更容易捕获氧原子,其中所述覆盖层包括含镓氧化物,并且其中所述含镓氧化物是氧缺乏的。
12.根据权利要求11所述的薄膜晶体管的制造方法,其中,所述含镓氧化物包括下列材料的至少一种:IGZO,GZO,IGO,氧化镓或其组合,
形成所述栅极叠层包括:
在所述有源层上形成绝缘材料层;
在所述绝缘材料层上形成导电层;
在所述导电层上形成覆盖材料层;
进行构图,以形成所述栅极叠层,
并且其中,所述制造方法进一步包括:
在形成所述有源层之前,在所述衬底基板上形成遮光层和第二布线,其中,第二布线和遮光层被同时形成,所述遮光层能够阻挡来自所述有源层下方的光进入所述有源层;
在形成所述有源层之后,在所述衬底基板上形成第一布线,其中,所述第一布线与所述栅极叠层被同时形成,并且所述第一布线具有与所述栅极叠层相同的结构;
在形成所述栅极叠层之后,对所述覆盖层的上表面和所述有源层的上表面进行等离子体处理。
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