[发明专利]一种矿石金属含量定性自动识别仪在审
申请号: | 201710328594.2 | 申请日: | 2017-05-11 |
公开(公告)号: | CN106990122A | 公开(公告)日: | 2017-07-28 |
发明(设计)人: | 饶绮麟;曾荣杰;冯庚寅;刘耀武 | 申请(专利权)人: | 北京中矿东方矿业有限公司 |
主分类号: | G01N23/02 | 分类号: | G01N23/02 |
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地址: | 100037 北京市西城*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 矿石 金属 含量 定性 自动识别 | ||
技术领域
本发明涉及一种矿石金属含量检测技术,尤其涉及一种矿石金属含量定性自动识别仪。
背景技术
矿物加工过程中,矿石金属含量在线分析技术具有广泛的应用空间,利用X射线荧光分析仪进行矿石金属含量分析,具有诸多意义。
矿石金属含量检测技术是一种利用原级X射线光子或其他微观离子激发待测矿物物质中的原子,使之产生荧光(特征X射线)而进行矿物成分分析的矿石金属含量分析技术。这种技术主要包括激发、色散、探测、记录及数据处理等单元。确定矿石是否含有有用金属,为执行机构提供准确的处理信号,决定该矿石的去留,废石予以抛弃。
现有技术中的矿石金属含量分析仪均采用放射性同位素做为激发源。
上述现有技术存在激发能力较低、测量精度差,而且存在核污染等缺点;同时解决矿石流中废石的自动抛弃。
发明内容
为解决现有技术存在的激发能力较低、测量精度差,而且存在核污染等缺点;以及矿石流中废石的自动化抛弃问题;本发明提出了一种矿石金属含量定性自动识别仪。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:矿石金属含量定性自动识别仪由X光管⑴、高压电源⑵、一体化半导体探测器⑶、X射线处理器⑷组成,根据X射线光谱学原理,利用激发能力较高、测量精度较高的原级X射线作为激发源,而不是放射性同位素为激发源。
X光管⑴连接有高压电源⑵,组成原级X射线激发源;一体化半导体探测器⑶的一侧设有X射线探测器与放大器(31)、数字脉冲处理器(32)、电源和接口(33)、+5伏电源(34);X射线探测器与放大器(31)、数字脉冲处理器(32)、电源和接口(33)全部密封在一个特制的金属盒子里面,具有很强的抗干扰能力,保证了探测特征X射线能谱的探测、转换、数字化一次成型。
高压电源⑵使X光管⑴产生原级X射线,照射到通过X光管⑴前端原级X射线照射区域的矿石流上,矿石流中待定性识别金属含量的矿石颗粒被原级X射线激发产生特征X射线,该特征X射线是不带电的粒子流,即矿石金属含量的检测信号,被一体化半导体探测器⑶的X射线探测器检测到,X射线探测器将检测信号放大、数字转换、整形、脉冲处理成为计算机能够接收的数字信号,送给通讯接口单元,以便与计算机连接。
X射线处理器⑷就是专用的微型计算机,借助专门的处理软件从前述的通讯接口单元读取数字化特征X射线能谱数据,识别通过X光管⑴前端的矿石是否含有有用金属,并发出相应的执行命令,通知执行机构将该矿石予以抛弃或是让其通过进入有用金属的矿石流。这就是典型的矿石金属含量定性自动识别仪。
为了提高矿石金属含量定性自动识别的处理量,一个原级X射线激发源可以一对一地安装1~50路一体化半导体探测器⑶,对1~50路矿石流进行激发,由一台计算机进行管理。
本发明一种矿石金属含量定性自动识别仪通过上述的设计,将X光管⑴、高压电源⑵、一体化半导体探测器⑶、X射线处理器⑷整合到一个机壳内。
本发明的有益效果是:由X光管⑴、高压电源⑵、一体化半导体探测器⑶、X射线处理器⑷组成的矿石金属含量定性自动识别仪,一体化结构,使矿石金属含量定性自动识别仪具有结构紧凑简单、可以方便的同时安装多个自动识别仪、测量的准确度高等优点;检测水平高、激发能力强、测量精度佳,而且不存在核污染。完成对矿石流中有用金属含量极低或者完全是脉石的自动识别。
以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应该以权利要求书的保护范围为准。
附图说明
图1为本发明的具体结构示意图。
图2为本发明的一体化半导体探测器⑶的组成图。
图中:⑴X光管,⑵高压电源,⑶一体化半导体探测器,(31)X射线探测器与放大器,(32)数字脉冲处理器,(33)电源和接口,(34)+5伏电源,⑷X射线处理器。
具体实施方式
本发明一种矿石金属含量定性自动识别仪实施例。矿石金属含量定性自动识别仪由X光管⑴、高压电源⑵、一体化半导体探测器⑶、X射线处理器⑷组成,制作在一个机箱内。
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