[发明专利]基于四象限探测器测光纤焦比退化的装置

权利要求书

1.基于四象限探测器测光纤焦比退化的装置，其特征在于：包括激光器(1)、扩束镜(2)、第一会聚透镜(3)、光阑(4)、第二会聚透镜(5)、光纤(6)、四象限探测器(7)和电控偏转镜(8)；激光器(1)发出的光经过扩束镜(2)进行扩束，之后打在第一会聚透镜(3)上，第一会聚透镜(3)将光束准直，准直光束经过光阑(4)打在第二会聚透镜(5)上，然后进入光纤(6)，经过光纤(6)传播，出射光束照射到四象限探测器(7)上，用电控偏转镜(8)扫描四象限探测器(7)的靶面，获得四象限探测器的位置灵敏度，从而计算出射光斑实际尺寸。

2.根据权利要求1所述的基于四象限探测器测光纤焦比退化的装置，其特征在于：所述激光器(1)为氦氖激光器，波长为632.8nm。

3.根据权利要求1所述的基于四象限探测器测光纤焦比退化的装置，其特征在于：所述扩束镜(2)的放大倍率为5倍。

4.根据权利要求1所述的基于四象限探测器测光纤焦比退化的装置，其特征在于：所述第一会聚透镜(3)的焦距为15cm。

5.根据权利要求1所述的基于四象限探测器测光纤焦比退化的装置，其特征在于：所述第二会聚透镜(5)的焦距为8cm。

6.根据权利要求1所述的基于四象限探测器测光纤焦比退化的装置，其特征在于：所述光阑(4)的孔径可调范围为1.5mm-26mm。

7.根据权利要求1所述的基于四象限探测器测光纤焦比退化的装置，其特征在于：所述光纤(6)的长度为4m。

8.根据权利要求1所述的基于四象限探测器测光纤焦比退化的装置，其特征在于：所述四象限探测器(7)的采样频率为2.5kHz，采样量程为±1V。