[发明专利]循环冗余校验码的生成方法和装置

权利要求书

1.一种循环冗余校验码的生成方法，其特征在于，包括：

将预设的生成多项式G(X)转换成二进制码G(n)；将待生成循环冗余校验码的信息M(X)转换成二进制码M(k)；其中，n＝0,1,...,N；k＝0,1,...,K-1；N为G(X)的阶数，K为M(k)的位数；

根据所述M(k)和所述G(n)，利用预设的反馈移位寄存器组，采用逐次移位的方法，计算M(k)*X^N模2除以G(n)的余数，将所述余数作为所述M(k)的循环冗余校验码；其中，所述反馈移位寄存器组按照Q(i-1)＝G(0)*Q(i-1)*X^-N+G(1)*Q(i-1)*X^-(N-1)+...+G(N-1)*Q(i-1)*X^-1+M(i-1)+G(N)构建得到；所述Q(i-1)表示第i-1次移位相除的商，所述+表示模2加运算符号，所述*表示乘运算符号，X^-n表示逻辑右移n次的符号，i＝1,...,K+1；

所述计算M(k)*X^N模2除以G(n)的余数包括：

x1、将所述反馈移位寄存器组的输入端初始化为M(0)，并将其中的各移位寄存器初始化为零，i＝1；

x2、利用当前所述反馈移位寄存器组和所述G(n)，按照Q(i-1)＝G(0)*Q(i-1)*X^-N+G(1)*Q(i-1)*X^-(N-1)+...+G(N-1)*Q(i-1)*X^-1+M(i-1)+G(N)，计算第i-1次移位相除的商Q(i-1)；Q(0)的初始值为寄存器D_N中的值与M(0)的和；

x3、当iK+1时，i＝i+1，将M(i-1)输入至所述反馈移位寄存器组的输入端，将所述反馈移位寄存器组中的各移位寄存器移位一次，执行步骤x2；当i＝K+1时，将当前移位寄存器组合D_N,…,D_n,…,D1对应的数值作为所述M(k)的循环冗余校验码，其中，寄存器D_n为所述反馈移位寄存器组中与Q(i-1)＝G(0)*Q(i-1)*X^-N+G(1)*Q(i-1)*X^-(N-1)+...+G(N-1)*Q(i-1)*X^-1+M(i-1)+G(N)中的X^-n对应的移位寄存器。

2.一种循环冗余校验码的生成装置，其特征在于，包括：

二进制码转换单元，用于将预设的生成多项式G(X)转换成二进制码G(n)；将待生成循环冗余校验码的信息M(X)转换成二进制码M(k)；其中，n＝0,1,...,N；k＝0,1,...,K-1；N为G(X)的阶数，K为M(k)的位数；

CRC校验码生成单元，用于根据所述M(k)和所述G(n)，利用预设的反馈移位寄存器组，采用逐次移位的方法，计算M(k)*X^N模2除以G(n)的余数，将所述余数作为所述M(k)的循环冗余校验码；其中，所述反馈移位寄存器组按照Q(i-1)＝G(0)*Q(i-1)*X^-N+G(1)*Q(i-1)*X^-(N-1)+...+G(N-1)*Q(i-1)*X^-1+M(i-1)+G(N)构建得到；所述Q(i-1)表示第i-1次移位相除的商，所述+表示模2加运算符号，所述*表示乘运算符号，X^-n表示逻辑右移n次的符号，i＝1,...,K+1；所述计算M(k)*X^N模2除以G(n)的余数包括：将所述反馈移位寄存器组的输入端初始化为M(0)，并将其中的各移位寄存器初始化为零，i＝1；触发利用所述反馈移位寄存器组执行K次移位相除运算，其中，每次移位相除运算的过程包括：利用当前所述反馈移位寄存器组和所述G(n)，按照Q(i-1)＝G(0)*Q(i-1)*X^-N+G(1)*Q(i-1)*X^-(N-1)+...+G(N-1)*Q(i-1)*X^-1+M(i-1)+G(N)，计算第i-1次移位相除的商Q(i-1)，Q(0)的初始值为寄存器D_N中的值与M(0)的和；当iK时，i＝i+1，将M(i-1)输入至所述反馈移位寄存器组的输入端，将所述反馈移位寄存器组中的各移位寄存器移位一次；在所述K次移位相除运算结束后，将当前移位寄存器组合D_N,…,D_n,…,D1对应的数值作为所述M(k)的循环冗余校验码，其中，寄存器D_n为所述反馈移位寄存器组中与Q(i-1)＝G(0)*Q(i-1)*X^-N+G(1)*Q(i-1)*X^-(N-1)+...+G(N-1)*Q(i-1)*X^-1+M(i-1)+G(N)中的X^-n对应的移位寄存器。