[发明专利]紫外曝光在保偏光纤内产生强度可控弱偏振耦合点的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201710298689.4 申请日: 2017-04-27
公开(公告)号: CN106989903B 公开(公告)日: 2019-02-26
发明(设计)人: 刘艳磊;黄胜;赵衍双;柴全 申请(专利权)人: 哈尔滨工程大学
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 紫外 曝光 偏光 产生 强度 可控 偏振 耦合 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种紫外曝光在保偏光纤内产生强度可控弱偏振耦合点的方法,其特征是:由第一KrF激光器(1)、保偏光纤(3)、第一旋转光纤功能夹具(41)、第二旋转光纤功能夹具(42)、第一光纤特征轴监测装置(51)和第二光纤特征轴监测装置(52)组成紫外曝光在保偏光纤内产生强度可控弱偏振耦合点的装置,保偏光纤(3)的两端分别固定于第一旋转光纤功能夹具(41)与第二旋转光纤功能夹具(42)上,保偏光纤(3)中部悬空并去掉涂覆层,用第一光纤特征轴监测装置(51)和第二光纤特征轴监测装置(52)分别监测保偏光纤内特征轴方向;固定第一KrF激光器(1)发出紫外光(2)的方向,同时调整第一旋转光纤功能夹具(41)与第二旋转光纤功能夹具(42),使保偏光纤(3)的特征轴与水平方向成θ角度,紫外光(2)侧向曝光对保偏光纤(3)进行非对称折射率调制,等效于一段保偏光纤主轴发生旋转,当传输在保偏光纤某一特征轴的偏振光通过被调制的保偏光纤时,该偏振光的部分能量将耦合到另外一个特征轴上,经过光程相关装置后两个特征轴上的偏振光发生干涉,从而产生偏振耦合;同时调整紫外曝光强度、紫外光与特征轴的夹角θ的大小和曝光光纤长度,产生不同强度的弱偏振耦合点,实现弱偏振耦合点强度可控。

2.根据权利要求1所述的紫外曝光在保偏光纤内产生强度可控弱偏振耦合点的方法,其特征是:紫外曝光在保偏光纤内产生强度可控弱偏振耦合点的装置中还包括石英玻璃相位模板(6),利用石英玻璃相位模板(6)写入光纤光栅(7),保偏光纤中的折射率空间调制使保偏光纤固有特征轴发生旋转,产生偏振耦合,通过调整紫外曝光强度和特征轴的转角θ使弱偏振耦合强度可控。

3.根据权利要求1所述的紫外曝光在保偏光纤内产生强度可控弱偏振耦合点的方法,其特征是:紫外曝光在保偏光纤内产生强度可控弱偏振耦合点的装置中还包括第二KrF激光器(11),第二KrF激光器(11)在薄片保偏光纤的另一侧添加紫外光(21),通过调整双侧紫外光曝光角度、曝光强度和曝光光纤长度,产生不同强度的弱偏振耦合点,实现弱偏振耦合点强度可控。

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