[发明专利]一种微波成像系统的幅相校正方法及系统

说明书

本发明提供一种微波成像系统的幅相校正方法及系统，其中，幅相校正方法包括：根据第一预设算法，对线性阵列天线获得的目标物体反射的回波信号在距离向进行数据处理，得到距离向压缩信号；提取所述距离向压缩信号在距离向的最大幅值所对应的距离值；根据所述距离值对所述回波信号进行时延补偿，得到时延补偿信号；根据第二预设算法，对所述时延补偿信号进行数据处理，得到幅相信号；根据所述时延补偿信号和所述幅相信号对所述回波信号进行幅相校正，得到校正回波信号。本发明通过直接利用对线性阵列天线获取的目标物体的回波信号进行幅相校正，不依赖于直达波，可以较好的补偿线性阵列天线各通道之间方向图的差异。

技术领域

本发明实施例属于微波成像技术领域，尤其涉及一种微波成像系统的幅相校正方法及系统。

背景技术

微波成像技术采用主动发射微波波段电磁波的方式对物体进行扫描成像，因其能够穿透物体表面而检测藏匿于物体内部的金属或非金属违禁品，且由于其具有辐射剂量小、属于非电离辐射等特点，可广泛应用于安检仪等微波成像系统，用于执行人体安全检查任务。目前较为流行的微波成像技术，通常要通过线性阵列天线得到所有等效天线采集位置处的回波信号组成回波信号集，再将回波信号集发送至安检系统的信号处理设备进行统一成像处理，得到目标物体的图像。在实际应用中，线性阵列天线的各通道之间的方向图、微波能量和初始相位均存在差异，需要对线性阵列天线各通道所采集的回波信号进行幅相校正，才能使各通道的回波信号相干，实现正常成像。

然而，目前常用的幅相校正方法通常是利用线性阵列天线各通道所采集的回波信号中的直达波信号进行校正，只能实现对幅度在0度附近的回波信号的校正，无法补偿各通道之间的方向图差异，并且当直达波信号较弱时，校正效果不理想。

发明内容

本发明实施例提供一种微波成像系统的幅相校正方法及系统，旨在解决目前常用的幅相校正方法存在的一系列问题，即：传统方法通常是利用线性阵列天线各通道所采集的回波信号中的直达波信号进行校正，这种校正方法只能实现对幅度在0度附近的回波信号的校正，无法补偿各通道之间的方向图差异，并且当直达波信号较弱时，校正效果不理想。

本发明实施例，一方面提供了一种微波成像系统的幅相校正方法，其包括：

根据第一预设算法，对线性阵列天线获取的目标物体反射的回波信号在距离向进行数据处理，得到距离向压缩信号；

提取所述距离向压缩信号在距离向的最大幅值所对应的距离值；

根据所述距离值对所述回波信号进行时延补偿，得到时延补偿信号；

根据第二预设算法，对所述时延补偿信号进行数据处理，得到幅相信号；

根据所述时延补偿信号和所述幅相信号对所述回波信号进行幅相校正，得到校正回波信号。

本发明实施例，另一方面还提供一种微波成像系统的幅相校正系统，其包括：

距离向压缩处理模块，用于根据第一预设算法，对线性阵列天线获取的目标物体反射的回波信号在距离向进行数据处理，得到距离向压缩信号；

距离值提取模块，用于提取所述距离向压缩信号在距离向的最大幅值所对应的距离值；

时延补偿模块，用于根据所述距离值对所述回波信号进行时延补偿，得到时延补偿信号；

幅相信号处理模块，用于根据第二预设算法，对所述时延补偿信号进行数据处理，得到幅相信号；

回波校正模块，用于根据所述时延补偿信号和所述幅相信号对所述回波信号进行幅相校正，得到校正回波信号。

本发明通过直接利用对线性阵列天线获取的目标物体的回波信号进行幅相校正，不依赖于直达波，可以较好的补偿线性阵列天线各通道之间的方向图的差异。

附图说明