[发明专利]半导体器件及其制造方法有效
| 申请号: | 201710296140.1 | 申请日: | 2017-04-28 |
| 公开(公告)号: | CN107403799B | 公开(公告)日: | 2023-05-09 |
| 发明(设计)人: | 宇佐美达矢 | 申请(专利权)人: | 瑞萨电子株式会社 |
| 主分类号: | H01L27/04 | 分类号: | H01L27/04;H01L21/02 |
| 代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 李辉;张昊 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 半导体器件 及其 制造 方法 | ||
1.一种半导体器件,设置有包括光电转换功能的光接收元件,
其中所述光接收元件包括:
绝缘膜,包括第一表面和与所述第一表面相交的第二表面,
第一导电类型的第一半导体层,与所述绝缘膜的所述第一表面接触,
本征半导体层,形成在所述第一半导体层之上,与所述绝缘膜的所述第一表面和所述第二表面接触,
第二导电类型的第二半导体层,所述第二导电类型与所述第一导电类型相反,所述第二半导体层形成在所述本征半导体层之上并且与所述绝缘膜的所述第二表面接触,以及
盖层,形成在所述第二半导体层之上并且与所述绝缘膜的所述第二表面接触,
其中所述半导体器件包括:
半导体层,形成在所述绝缘膜下方;
第一开口部分,穿透所述绝缘膜;以及
第二开口部分,形成在所述半导体层中,与所述第一开口部分连通,
其中所述第一半导体层与从所述第二开口部分的内壁表面暴露的所述半导体层以及从所述第二开口部分暴露的所述绝缘膜的下表面接触,所述绝缘膜的所述下表面是所述绝缘膜的所述第一表面,并且
其中所述第二半导体层与所述第一开口部分的内壁表面接触,所述第一开口部分的所述内壁表面是所述绝缘膜的所述第二表面。
2.根据权利要求1所述的器件,
其中所述半导体层是光波导层。
3.根据权利要求2所述的器件,
其中所述半导体层的带隙大于所述第一半导体层、所述本征半导体层和所述第二半导体层中的任一层的带隙。
4.根据权利要求1所述的器件,
其中所述第二半导体层的高度低于所述绝缘膜的上表面。
5.根据权利要求1所述的器件,
其中所述绝缘膜的所述第一表面是所述绝缘膜的所述下表面,并且
其中所述绝缘膜的所述第二表面是所述第一开口部分的所述内壁表面。
6.根据权利要求5所述的器件,
其中所述第二开口部分的所述内壁表面具有圆形的形状。
7.根据权利要求5所述的器件,
其中所述第二半导体层的高度低于所述绝缘膜的上表面。
8.根据权利要求1所述的器件,
其中所述半导体器件包括位于所述光接收元件下方的半导体层,
其中所述半导体层由硅层形成,
其中所述第一半导体层由第一锗层形成,
其中所述本征半导体层由本征锗层形成,并且
其中所述第二半导体层由第二锗层形成。
9.根据权利要求1所述的器件,
其中所述光接收元件被设计为能够接收所述光接收元件之上的光。
10.一种制造半导体器件的方法,包括以下步骤:
(a)图案化半导体层;
(b)形成覆盖图案化的所述半导体层的绝缘膜,所述绝缘膜包括第一表面和与所述第一表面相交的第二表面;
(c)在所述半导体层中形成第二开口部分,以及形成穿透所述绝缘膜并与所述第二开口部分连通的第一开口部分;
(d)在从所述第二开口部分暴露的所述半导体层上形成第一导电类型的第一半导体层;
(e)在所述第一半导体层上形成本征半导体层;
(f)在所述本征半导体层之上形成第二导电类型的第二半导体层;以及
(g)在所述第二半导体层上形成盖层,所述盖层与所述绝缘膜的所述第二表面接触,所述绝缘膜的所述第二表面是所述第一开口部分的内壁表面,
其中所述第一半导体层与从所述第二开口部分的内壁表面暴露的所述半导体层以及从所述第二开口部分暴露的所述绝缘膜的下表面接触,所述绝缘膜的所述下表面是所述绝缘膜的所述第一表面,并且
其中所述第二半导体层与所述第一开口部分的内壁表面接触。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于瑞萨电子株式会社,未经瑞萨电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710296140.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





