[发明专利]一种基于散射光重构的光学成像方法在审
申请号: | 201710293623.6 | 申请日: | 2017-04-28 |
公开(公告)号: | CN107102435A | 公开(公告)日: | 2017-08-29 |
发明(设计)人: | 张文喜;孔新新;伍洲;李杨 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电研究院 |
主分类号: | G02B27/00 | 分类号: | G02B27/00;G02B27/58;G02B27/42 |
代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司11260 | 代理人: | 郑立明,陈亮 |
地址: | 100080 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 散射 光重构 光学 成像 方法 | ||
1.一种基于散射光重构的光学成像方法,其特征在于,所述方法包括:
被观测目标的不同位置经过墙体漫反射;
漫反射后的反射光通过不同的路径依次经过共轭成像镜;
然后再穿过微孔,在面探测器上呈现所述被观测目标倒置的像,实现绕墙非视域成像;
其中,所述共轭成像镜、微孔和面探测器组成成像系统;
所述墙体为所述被观测目标和成像系统之间的漫反射信息转换载体;
所述被观测目标与所述成像系统之间被障碍物隔断,该障碍物为可见光波不可穿透的实体物质。
2.根据权利要求1所述基于散射光重构的光学成像方法,其特征在于,
所述被观测目标采用两个分离的点光源模拟。
3.根据权利要求2所述基于散射光重构的光学成像方法,其特征在于,
当两个分离的点光源通过所述墙体的同一点散射后,利用所述微孔过滤其他位置处的杂散光,在所述面探测器上将所述两个分离的点光源分辨出来。
4.根据权利要求1所述基于散射光重构的光学成像方法,其特征在于,所述方法还包括:
增加所述成像系统的个数,实现多维阵列分布,对同一观测点进行信号采集,利用不同角度的成像系统获取不同的散射场分布,通过增加的非冗余信息提高有效观测视场和成像分辨率。
5.根据权利要求1所述基于散射光重构的光学成像方法,其特征在于,所述方法还包括:
增加所述成像系统的个数,且每个成像系统的观测点不一致,通过采集多个点的信息来获得目标场的三维空间信息。
6.根据权利要求1所述基于散射光重构的光学成像方法,其特征在于,
所述非视域成像的分辨率由微孔大小决定。
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