[发明专利]一种超导线圈多点温度测量系统

权利要求书

1.一种超导线圈多点温度测量系统，其特征在于，包括温度探测装置、热传导构件、制冷装置、真空密闭腔体和待检测的超导线圈；

所述温度探测装置用于检测超导线圈不同部位的温度；所述超导线圈放置在所述热传导构件上，所述热传导构件放置所述超导线圈的一端嵌设在所述真空密闭腔体内，相对的另一端与所述制冷装置连接。

2.根据权利要求1所述的超导线圈多点温度测量系统，其特征在于，所述温度探测装置为温度探头组件，所述温度探头组件包括信号线以及多个与所述信号线相连接的温度探头，多个所述温度探头分别与超导线圈的不同位置相接触。

3.根据权利要求2所述的超导线圈多点温度测量系统，其特征在于，多个所述温度探头间隔布置在所述超导线圈的上表面；所述真空密闭腔体顶端设有与所述信号线相连接的信号线接口。

4.根据权利要求3所述的超导线圈多点温度测量系统，其特征在于，所述信号线为柔性结构，以便在所述超导线圈上任意布置温度探头，方便温度探头探测超导线圈的不同位置。

5.根据权利要求3所述的超导线圈多点温度测量系统，其特征在于，多个所述温度探头在所述超导线圈的上表面排列为多圈；

所述超导线圈的上表面间隔设有多圈圆形轨道，多个所述温度探头分别布置在所述多圈圆形轨道内；

该测量系统还包括盖板，所述盖板将多个所述温度探头覆盖。

6.根据权利要求1所述的超导线圈多点温度测量系统，其特征在于，所述温度探测装置为测温光纤，所述测温光纤一端连接外部电路，另一端盘绕在所述超导线圈表面，并根据实际测量需求确定所述测温光纤在超导线圈上的布置疏密。

7.根据权利要求1～6任一项所述的超导线圈多点温度测量系统，其特征在于，还包括真空密封的第一杜瓦，所述第一杜瓦分为上部腔体和下部腔体，所述上部腔体为所述真空密闭腔体，所述下部腔体为所述制冷装置，所述制冷装置内充满液氮；

所述热传导构件中空，其顶端封闭、水平且放置有所述超导线圈，底端敞口且与所述制冷装置相连通。

8.根据权利要求1～6任一项所述的超导线圈多点温度测量系统，其特征在于，所述真空密闭腔体为第二杜瓦，所述制冷装置为制冷机，所述热传导构件为中空的冷气通道，其顶端封闭、水平，且放置有所述超导线圈，底端敞口且与所述制冷机连通。

9.根据权利要求1所述的超导线圈多点温度测量系统，其特征在于，所述超导线圈和热传导构件之间设有接触板，且所述接触板的导热率低于热传导构件；和/或，所述真空密闭腔体顶端设有抽气口。

10.根据权利要求1所述的超导线圈多点温度测量系统，其特征在于，所述真空密闭腔体顶端设有强电接口，内部还设有电极引入线、电极引出线、电极引线转换件、第一过渡线和第二过渡线，所述电极引入线和电极引出线均与所述强电接口连接，所述超导线圈的始端与第一过渡线、电极引线转换件、电极引入线顺次连接，末端与第二过渡线、电极引线转换件、电极引出线顺次连接；所述电极引线转换件与热传导构件贴接；所述电极引入线和电极引出线均为常规导线，所述第一过渡线和第二过渡线均为超导线。