[发明专利]一种特高压设备绝缘缺陷类型判断方法和系统

权利要求书

1.一种特高压设备绝缘缺陷类型判断方法，其特征在于，包括以下步骤：

(1)采集特高压设备的局部放电信号；

(2)对所述局部放电信号进行小波包变换，得到第n层结点的小波包系数；

(3)对所述第n层结点的小波包系数进行时频分析，提取第n层结点的时频信号能量特征；

(4)通过AP聚类将所述第n层结点的时频信号能量特征分为m组；

(5)选取所述m组时频信号能量特征中特征数量最多的一组对应的结点的小波包系数作为最优小波包系数；

(6)计算所述最优小波包系数对应的时频信号能量特征到其聚类中心的minkowski距离；

(7)基于所述最优小波包系数对应结点的时频信号能量特征和所述minkowski距离判断所述特高压设备绝缘缺陷的类型。

2.如权利要求1所述的特高压设备绝缘缺陷类型判断方法，其特征在于，在所述步骤(7)中，采用AP-SVM分类器判断所述特高压设备绝缘缺陷的类型。

3.如权利要求1所述的特高压设备绝缘缺陷类型判断方法，其特征在于，在所述步骤(7)中，采用AP-SSVM分类器判断所述特高压设备绝缘缺陷的类型。

4.如权利要求3所述的特高压设备绝缘缺陷类型判断方法，其特征在于，所述AP-SSVM分类器包括SSVM训练模块和SSVM测试模块。

5.如权利要求4所述的特高压设备绝缘缺陷类型判断方法，其特征在于，所述SSVM训练模块被配置为执行包括以下步骤：

进行SVM训练；

构造错误分类数据集，若该错误分类数据集非空，则为该错误分类数据集的每一项计算领域长度。

6.如权利要求4所述的特高压设备绝缘缺陷类型判断方法，其特征在于，所述SSVM测试模块被配置为执行包括以下步骤：

为测试集中的每个x_k计算建议权重AW(x_k,+1)和AW(x_k,-1)；

为测试集中的每个x_k计算SVM决策值的绝对值h(x_k)；

对测试集中的每个x_k，若max(AW(x_k,±1),h(x_k))＝h(x_k)，则进行常规的SVM标记；否则基于max(AW(x_k,+1),AW(x_k,-1))进行标记。

7.一种特高压设备绝缘缺陷类型判断系统，其特征在于，包括：

采集模块，其采集特高压设备的局部放电信号；

变换模块，其对所述局部放电信号进行小波包变换，得到第n层结点的小波包系数；

特征提取模块，其对所述第n层结点的小波包系数进行时频分析，提取第n层结点的时频信号能量特征；

特征参数计算模块，其通过AP聚类将所述第n层结点的时频信号能量特征分为m组；选取所述m组时频信号能量特征中特征数量最多的一组对应的结点的小波包系数作为最优小波包系数；计算所述最优小波包系数对应的时频信号能量特征到其聚类中心的minkowski距离；

判断模块，其基于所述最优小波包系数对应结点的时频信号能量特征和所述minkowski距离判断所述特高压设备绝缘缺陷的类型。

8.如权利要求7所述的特高压设备绝缘缺陷类型判断系统，其特征在于，所述判断模块采用AP-SVM分类器判断所述特高压设备绝缘缺陷的类型。

9.如权利要求7所述的特高压设备绝缘缺陷类型判断系统，其特征在于，所述判断模块采用AP-SSVM分类器判断所述特高压设备绝缘缺陷的类型。

10.如权利要求9所述的特高压设备绝缘缺陷类型判断系统，其特征在于，所述AP-SSVM分类器包括SSVM训练模块和SSVM测试模块。