[发明专利]基于三坐标的大口径、复杂自由曲面元件的检测方法在审

专利信息
申请号: 201710271371.7 申请日: 2017-04-24
公开(公告)号: CN107121113A 公开(公告)日: 2017-09-01
发明(设计)人: 吴国涛 申请(专利权)人: 上海现代先进超精密制造中心有限公司
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20
代理公司: 上海顺华专利代理有限责任公司31203 代理人: 顾雯
地址: 200433 上海市杨*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 基于 标的 口径 复杂 自由 曲面 元件 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于三坐标的大口径、复杂自由曲面元件的检测方法,其特征在于,包括:首先将待检测元件放置于三坐标同一稳定环境中,放置8小时以上,然后对待检测元件进行清洁,将清洁后的待检测元件放置于三坐标的工作台上,在三坐标内导入待检测元件理论模型,建立测针测量路径对待检测元件进行测量,其中:测针的测杆直径为2.0mm,有效工作长度为15mm,测针总长度为25mm,测球直径为3mm,测针的测力为100mN。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述的稳定环境具体是:温度为20°±0.5°,湿度40%-60%,温度梯度小于0.4k/day,0.2k/hour,0.1k/meter。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述的三坐标包括:工作台、移动桥架、中央滑架、横梁和底座,其中:工作台设置于底座上,移动桥架设置于横梁两侧,中央滑架设置于横梁中部。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述的三坐标为卡尔蔡司型号UPMC ULTRA。

5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述的待检测元件理论模型具体是:口径大于100mm的大口径旋转对称球面、非球面或者自由曲面。

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