[发明专利]对标测量装置、校准镜头与图卡相对位置的系统及方法

说明书

本发明公开了对标测量装置、校准镜头与图卡相对位置的系统及方法，该对标测量装置包括调准机构以及设置在调准机构上的对标机构，所述对标机构包括基体以及设置在基体上的激光测距模块和激光发射件，所述激光测距模块和激光发射件的激光光束轴线均与基体的对标端面垂直，所述激光发射件至少设置有三个；所述调准机构被配置：调整并记录对标机构在X轴、Y轴、Z轴的位置以及在其转动平面内的旋转角度。本发明的对标测量装置能确定镜头的基准，而且对标调整方便并能记录调整数据，而本发明的校准镜头与图卡相对位置的系统能快速、方便、精确测量并校准镜头与图卡的相对位置，有利于提高镜测试的精度，并提高了镜头组装调试效率，保障了电子产品品质。

技术领域

本发明涉及光学检测技术领域，具体地，涉及一种对标测量装置；本发明还涉及一种校准镜头与图卡相对位置的系统及方法。

背景技术

现在很多智能电子产品都具有摄像功能，这些电子产品中具有摄像功能的镜头在组装生产过程中，需要进行性能检测。特别是对镜头的光学特性进行测试，以保证镜头的精度，保持良好的用户体验。而在光学特性的测试中，镜头与图卡的相对位置的定位精度直接影响到镜头的精度。

现有技术中，镜头与图卡的相对位置主要通过板尺或激光测距仪器进行校准，但板尺或激光测距仪器均难以通过图卡找到镜头基准，不能保障测量的镜头与图卡之间的距离为垂直距离，也不能实现测量时镜头与图卡的中心轴线重合，因此，实现不了精确测量。尤其针对板尺，在镜头与图卡相距较远时，不能保证测量的精度。

因此，本领域急需使用方便且校准精确的对标测量装置、校准镜头与图卡相对位置的系统及方法。

发明内容

本发明的一个目的是提供对标测量装置的新技术方案；

本发明的另一个目的是提供一种校准镜头与图卡相对位置的系统的新技术方案；

本发明的另一个目的是提供一种校准镜头与图卡相对位置的方法的新技术方案。

根据本发明的第一方面，提供了一种对标测量装置，包括调准机构以及设置在调准机构上的对标机构，所述对标机构包括基体以及设置在基体上的激光测距模块和激光发射件，所述激光测距模块和激光发射件的激光光束轴线均与基体的对标端面垂直,所述激光发射件至少设置有三个；所述调准机构被配置：调整并记录对标机构在X轴、Y轴、Z轴的位置以及在其转动平面内的旋转角度。

优选地，还包括至少三个观察组件，所述观察组件包括目镜、安装在目镜上的三棱镜以及设置在目镜上并与三棱镜配合的窥管，所述窥管垂直基体的对标端面。

优选地，所述三棱镜上设置有十字标。

优选地，所述基体呈三棱柱状，所述对标端面为三棱柱状基体的前端端面；所述激光发射件和观察组件均设置有三个，所述激光发射件分别设置在基体的三个侧面上，所述观察组件分别设置在基体的三个侧棱处。

优选地，所述激光测距模块设置在基体对标端面的中心处。

优选地，所述调准机构包括基座、设置在基座上的平面调整尺、固定在平面调整尺上的高度调整尺以及固定在高度调整尺上的角度调整尺，所述对标机构通过基体转动安装在角度调整尺上。

优选地，所述平面调整尺包括设置在基座上的X轴调整尺以及连接在X轴调整尺上的Y轴调整尺，所述Y轴调整尺上设有支架，所述高度调整尺安装在支架上。

根据本发明的第二方面，提供了一种校准镜头与图卡相对位置的系统，包括上述对标测量装置，所述对标测量装置的对标端面的中心轴线与镜头平面的中心轴线重合，所述对标测量装置设置在图卡一侧用于校准镜头与图卡相对位置。