[发明专利]一种干扰检测装置

权利要求书

1.一种干扰检测装置，其特征在于，包括：

探头，用于接收射频信号；

至少两个射频处理电路，并联耦接所述探头，

其中，所述射频处理电路工作的频带不同，当所述探头接收到所述射频信号时，所述至少两个射频处理电路分别对所述射频信号进行处理而得到与每个所述射频处理电路对应的处理结果，并在与每个所述射频处理电路对应的处理结果中选择匹配所述射频信号的频率的结果；

所述干扰检测装置进一步包括MCU以及第一射频开关，

所述第一射频开关的动端耦接所述探头的输出端，所述第一射频开关的至少两个不动端分别耦接所述至少两个射频处理电路的输入端，所述MCU耦接所述第一射频开关的控制端，

所述MCU通过所述控制端控制所述第一射频开关以使所述至少两个射频处理电路分别对所述射频信号进行处理；

所述干扰检测装置进一步包括按键，耦接所述MCU，用于产生从所述至少两个射频处理电路中选择一个所述射频处理电路的中断信号，所述中断的优先级最高；

其中，所述MCU处于第一状态或第二状态，当所述MCU处于所述第一状态时，禁用定时器中断，当所述MCU处于所述第二状态时，开启所述定时器中断，所述开启所述定时器中断具体包括：当产生一个所述定时器中断时，所述MCU通过所述第一射频开关依次切换下一个所述射频处理电路对所述探头接收的所述射频信号进行处理；

其中，当所述按键产生中断时，所述MCU判断所述中断的时间是否超过预设的值，当所述中断的时间超过所述预设的值时，所述MCU进行所述第一状态与所述第二状态的切换；当所述中断的时间未超过所述预设的值时，继续判断当前所述MCU是否处于所述第一状态，若当前所述MCU处于所述第一状态，则所述MCU控制所述第一射频开关依次切换下一个所述射频处理电路对所述探头接收的所述射频信号进行处理，否则不做任何改变。

2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，

所述射频处理电路包括放大器，所述MCU耦接所述放大器的使能端，

当所述MCU通过所述控制端控制所述第一射频开关以选择所述至少两个射频处理电路中的一个所述射频处理电路对所述探头接收的所述射频信号进行处理时，所述MCU通过所述使能端控制所述其中一个所述射频处理电路中的所述放大器工作以及控制剩余部分的所述射频处理电路中的所述放大器不工作。

3.如权利要求2所述的检测装置，其特征在于，

所述放大器为低噪声放大器。

4.如权利要求3所述的检测装置，其特征在于，

所述射频处理电路还包括滤波器，耦接所述放大器的输出端。

5.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，

进一步包括第二射频开关，所述第二射频开关的至少两个不动端分别耦接所述至少两个射频处理电路的输出端，所述第二射频开关的控制端耦接所述第一射频开关的控制端；及

输出接口，耦接所述第二射频开关的动端，用于将处理后的所述射频信号进行输出。

6.如权利要求1至5任一项所述的检测装置，其特征在于，

所有所述射频处理电路工作的频带一起构成检测所需的频带。