[发明专利]用于元器件定位的检测方法及检测系统在审
| 申请号： | 201710261063.6 | 申请日： | 2017-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN108732484A | 公开（公告）日： | 2018-11-02 |
| 发明（设计）人： | 田雷;周俊全 | 申请（专利权）人： | 深圳市朗驰欣创科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 元器件 检测 供电电源 图像信息 预设时间段 边缘信息 检测系统 断开 红外光 定位故障位置 分析故障原因 可见光 定位精确 故障定位 融合图像 数据分析 维修成本 预设位置 自动断开 保存 算法 台座 预设 记录 | ||
1.一种用于元器件定位的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括以下步骤：
A.将PCB板固定于检测台座的预设位置；
B.获取可见光与红外光的融合图像，并识别所述PCB板上的元器件的边缘信息；
C.根据所述元器件的边缘信息，确定所述元器件的位置；
D.判断所述元器件的位置的温度是否大于预设温度，是，则执行步骤E，否，则执行步骤F；
E.断开供电电源，并保存断开所述供电电源之前的图像信息；
F.在预设时间段后，保存所述预设时间段的图像信息；
G.根据所述图像信息进行数据分析以及故障定位，并分析故障原因。
2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述步骤B具体为：
将红外图像和可见光图像进行交融组合成所述融合图像，并对所述可见光图像进行算法处理的参数调整，提取出所述可见光图像的边沿信息，根据所述可见光图像的边沿信息进行闭合图形的锁定，以识别所述元器件的边缘信息。
3.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述步骤C具体为：
提取所述元器件的边缘的多个关键点，并对所述多个关键点进行定义，得到多个二维参数，根据所述多个二维参数确定所述元器件的位置。
4.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述图像信息包括图像形状、图像色彩、图像尺寸以及图像所在位置的发热量。
5.一种用于元器件定位的检测系统，其特征在于，所述检测系统包括：
固定模块，用于将PCB板固定于检测台座的预设位置；
获取模块，用于获取可见光与红外光的融合图像，并识别所述PCB板上的元器件的边缘信息；
确定模块，用于根据所述元器件的边缘信息，确定所述元器件的位置；
判断模块，用于判断所述元器件的位置的温度是否大于预设温度，若是，则驱动断电模块工作，若否，则驱动保存模块工作；
断电模块，用于断开供电电源，并保存断开所述供电电源之前的图像信息；
保存模块，用于在预设时间段后，保存所述预设时间段的图像信息；
分析模块，用于根据所述图像信息进行数据分析以及故障定位，并分析故障原因。
6.如权利要求5所述的检测系统，其特征在于，所述获取模块具体包括：
将红外图像和可见光图像进行交融组合成所述融合图像，并对所述可见光图像进行算法处理的参数调整，提取出所述可见光图像的边沿信息，根据所述可见光图像的边沿信息进行闭合图形的锁定，以识别所述元器件的边缘信息。
7.如权利要求5所述的检测系统，其特征在于，所述确定模块具体包括：
提取所述元器件的边缘的多个关键点，并对所述多个关键点进行定义，得到多个二维参数，根据所述多个二维参数确定所述元器件的位置。
8.如权利要求5所述的检测系统，其特征在于，所述图像信息包括图像形状、图像色彩、图像尺寸以及图像所在位置的发热量。
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