[发明专利]一种总剂量效应的探测方法及装置

权利要求书

1.一种总剂量效应的探测方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：

对待测芯片中的电路进行可测性设计；

根据所述待测芯片中逻辑单元对总剂量效应的敏感性状态，构造所述待测芯片总剂量效应的原始信号，生成所述原始信号的观测矩阵，其中，所述敏感性状态根据所述待测芯片内部所述逻辑单元的属性确定；

根据所述观测矩阵中的行向量，生成对应的测试向量集；

对预设数量个所述待测芯片进行总剂量辐照，通过所有测试向量集对辐照后对应的待测芯片进行测试，以确定所述辐照后的待测芯片是否出错；

当确定所述辐照后的待测芯片出错时，根据所述所有测试向量集的测试结果和所述观测矩阵，生成压缩感知方程，根据所述压缩感知方程和预设的信号重构算法，生成并输出所述待测芯片内部总剂量效应的敏感逻辑单元分布。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当确定所述辐照后的待测芯片未出错时，增加所述总剂量辐照的辐照剂量，并重新执行对预设数量个所述待测芯片进行总剂量辐照的操作。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，构造所述待测芯片总剂量效应的原始信号，生成所述原始信号的观测矩阵的步骤，包括：

根据所述待测芯片中逻辑单元对总剂量效应的敏感性状态，构造所述原始信号；

将预设的伯努利随机矩阵设置为所述原始信号的观测矩阵。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述观测矩阵中的行向量，生成对应的测试向量集的步骤，包括：

依次根据所述观测矩阵中每个行向量，确定所述待测芯片内部的逻辑单元中的待测单元，生成所述待测单元的测试向量；

将所述待测芯片中所有待测单元的测试向量构成一个测试向量集，所述每个行向量对应一个测试向量集。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，对预设数量个所述待测芯片进行总剂量辐照，通过所有测试向量集对辐照后对应的待测芯片进行测试，以确定所述辐照后的待测芯片是否出错的步骤，包括：

在预设的总剂量辐射环境中对所述预设数量个待测芯片进行辐照；

通过所述每个测试向量集对所述辐照后相应的待测芯片进行测试，确定所述辐照后的待测芯片是否出错，并获得每个辐照后待测芯片的出错逻辑单元数目。

6.一种总剂量效应的探测装置，其特征在于，所述装置包括：

电路设计模块，用于对待测芯片中的电路进行可测性设计；

矩阵生成模块，用于根据所述待测芯片中逻辑单元对总剂量效应的敏感性状态，构造所述待测芯片总剂量效应的原始信号，生成所述原始信号的观测矩阵，其中，所述敏感性状态根据所述待测芯片内部所述逻辑单元的属性确定；

向量集生成模块，用于根据所述观测矩阵中的行向量，生成对应的测试向量集；

辐照测试模块，用于对预设数量个所述待测芯片进行总剂量辐照，通过所有测试向量集对辐照后对应的待测芯片进行测试，确定所述辐照后的待测试芯片是否出错；以及

敏感输出模块，用于当确定所述辐照后的待测芯片出错时，根据所述所有测试向量集的测试结果和所述观测矩阵，生成压缩感知方程，根据所述压缩感知方程和预设的信号重构算法，生成并输出所述待测芯片内部总剂量效应的敏感逻辑单元分布。

7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

剂量增加模块，用于当确定所述辐照后的待测芯片未出错时，增加所述总剂量辐照的辐照剂量。

8.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述矩阵生成模块包括：

原始信号构造模块，用于根据所述待测芯片中逻辑单元对总剂量效应的敏感性状态，构造所述原始信号；以及

观测矩阵设置模块，用于将预设的伯努利随机矩阵设置为所述原始信号的观测矩阵。