[发明专利]一种双干涉仪匹配解调的光纤传感测量方法及装置在审

专利信息
申请号: 201710248395.0 申请日: 2017-04-17
公开(公告)号: CN107014412A 公开(公告)日: 2017-08-04
发明(设计)人: 江毅;贾景善;姜澜 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01D5/353 分类号: G01D5/353
代理公司: 北京理工正阳知识产权代理事务所(普通合伙)11639 代理人: 毛燕
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 干涉仪 匹配 解调 光纤 传感 测量方法 装置
【权利要求书】:

1.一种双干涉仪匹配解调的光纤传感测量方法,其特征在于:具体步骤如下:

步骤一、在现有正交工作点直接测量法的基础上引入参考干涉仪;

步骤二、双干涉仪匹配解调;正交工作点直接测量法中的传感干涉仪用于采集包含干扰信息的待测信号;参考干涉仪用于采集干扰信号;

步骤三、将步骤二传感干涉仪和参考干涉仪获取的信号通过光电转换模块转换为电信号,而后使用减法器将两路信号求差,即可得到消除干扰后的待测信号。

2.实现如权利要求1所述一种双干涉仪匹配解调的光纤传感测量方法的装置,其特征在于:装置包括:激光器(1),耦合器组(2),传感干涉仪(3),参考干涉仪(4),光电转换模块(5),减法器(6)和温度控制模块(7);

温度控制模块(7)将激光器(1)的输出光波长移动并稳定到两个干涉仪的线性工作区,激光器(1)发射的激光通过耦合器组(2)注入传感干涉仪(3)和参考干涉仪(4),传感干涉仪(3)和参考干涉仪(4)输出的光信号经过光电转换模块(5)转换放大后,通过减法器(6)做减法运算并输出解调信号。

3.如权利要求2所述装置,其特征在于:所述传感干涉仪(3)和参考干涉仪(4)包括:双光束干涉仪和多光束干涉仪两种类型。

4.如权利要求3所述装置,其特征在于:所述双光束干涉仪包括Michelson干涉仪、Mach-Zehnder干涉仪和低精细度的外腔式Fabry-Perot干涉仪。

5.如权利要求3所述装置,其特征在于:所述多光束干涉仪是指高精细度的外腔式Fabry-Perot干涉仪。

6.如权利要求5所述装置,其特征在于:所述多光束干涉仪的支撑结构选取零膨胀系数的材料。

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