[发明专利]阵列基板及其修复方法、显示装置有效
申请号: | 201710233921.6 | 申请日: | 2017-04-11 |
公开(公告)号: | CN106842751B | 公开(公告)日: | 2020-06-23 |
发明(设计)人: | 刘萌;唐硕;孙鹏;封宾 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/1362 | 分类号: | G02F1/1362 |
代理公司: | 北京金信知识产权代理有限公司 11225 | 代理人: | 黄威;王传林 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列 及其 修复 方法 显示装置 | ||
本发明公开了一种阵列基板及其修复方法、显示装置。本发明的阵列基板包括:衬底基板,衬底基板被划分为引线区和像素区,像素区包括多个薄膜晶体管,引线区包括多条与薄膜晶体管的栅极同层设置的金属数据线;第一导电层,第一导电层覆盖金属数据线和薄膜晶体管的源极/漏极,并通过过孔的方式将金属数据线和源极/漏极一一对应地导电连接,以及修复结构,修复结构为导电材料,修复结构的一端与金属数据线或源极/漏极中任意一个导电连接,另一端与金属数据线或源极/漏极中的另一个的全部或部分绝缘交叠。本发明的阵列基板及其修复方法、显示装置,其金属数据线和源极/漏极发生断路时可以维修,可以提高生产良率,节约生产成本。
技术领域
本发明涉及液晶显示技术领域,尤其涉及一种阵列基板及其修复方法、显示装置。
背景技术
高分辨率、高像素密度的液晶显示装置已经成为了目前液晶显示行业的主流。
在高分辨率的液晶显示装置的设计需求下,阵列基板外围电路的结构空间往往有限,尤其是小尺寸的液晶显示装置,外围电路的结构空间尺寸更加有限。因此,阵列基板外围电路的引线区的布线方式,只能采取金属数据线、源极/漏极交替布线的方式以满足工艺要求,使金属数据线、源极/漏极之间只能通过过孔连接的方式进行连接。
现有的阵列基板的过孔连接方式是通过采用第二层氧化铟锡层将金属数据线、源极/漏极连接。由于第二层氧化铟锡层膜厚约膜厚较薄并且裸露于阵列基板的表面,而金属数据线、源极/漏极之间存在段差,因此,在生产工艺中容易产生静电释放,使金属数据线、源极/漏极之间发生断路。并且现有阵列基板的过孔连接方式对此并无相应的补救结构,导致产生此问题后无法维修,降低了阵列基板的生产良率。
发明内容
为解决上述问题,本发明提供一种阵列基板及其修复方法、显示装置,通过改变金属数据线、源极/漏极之间的过孔连接结构,来提高阵列基板的生产良率。
为实现上述目的,本发明的一种阵列基板,其特征在于,包括:
衬底基板,衬底基板被划分为引线区和像素区,像素区设有多个薄膜晶体管,引线区设有多条与薄膜晶体管的栅极同层设置的金属数据线;
第一导电层,第一导电层覆盖任意一条金属数据线和与该金属数据线对应的薄膜晶体管的源极/漏极,并通过过孔的方式将金属数据线和源极/漏极一一对应地导电连接,以及
修复结构,修复结构为导电材料,修复结构的一端与金属数据线或源极/漏极中任意一个导电连接,另一端与金属数据线或源极/漏极中的另一个的全部或部分绝缘交叠。
进一步地,修复结构与金属数据线同层设置。
进一步地,修复结构为金属数据线向源极/漏极一层伸出的数据线延伸部,数据线延伸部延伸至像素区,并与源极/漏极全部或者部分绝缘交叠。
进一步地,还包括位于像素区的第二导电层,第二导电层设置于薄膜晶体管的源极/漏极和栅极所在的两层之间,第二导电层与源极/漏极导电连接且与栅极绝缘设置。
进一步地,修复结构与第二导电层同层设置。
进一步地,修复结构为第二导电层向金属数据线一侧伸出的导电层延伸部,导电层延伸部与第二导电层绝缘设置;导电层延伸部由像素区延伸至引线区,并与金属数据线全部或者部分绝缘交叠。
进一步地,还包括第一绝缘层,第一绝缘层设置于金属数据线与源极/漏极之间,第一绝缘层上设置第一过孔,第一金属层通过第一过孔与金属数据线导电连接。
进一步地,还包括第二绝缘层,第二绝缘层设置于第一导电层与源极/漏极之间,第二绝缘层上设置第二过孔,第一导电层通过第二过孔与源极/漏极导电连接。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司,未经京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710233921.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种轨道交通系统运行安全评估方法
- 下一篇:冲击检测电路及其操作方法