[发明专利]基于前向散射波和C均值聚类算法的板类缺陷定位方法有效
申请号: | 201710233537.6 | 申请日: | 2017-04-11 |
公开(公告)号: | CN106990169B | 公开(公告)日: | 2019-08-02 |
发明(设计)人: | 周邵萍;翟双苗;陈少杰;李勇;杨斌;张楠楠;刘伟 | 申请(专利权)人: | 华东理工大学 |
主分类号: | G01N29/04 | 分类号: | G01N29/04;G01N29/44 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人: | 翁惠瑜 |
地址: | 200237 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 散射 均值 算法 缺陷 定位 方法 | ||
1.一种基于前向散射波和C均值聚类算法的板类缺陷定位方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)在板类结构中布置由n个传感器组成的稀疏阵列,选择最佳激励频率,对所述稀疏阵列中所有传感器依次进行激励,每次激励时,受激励的传感器为激励传感器,其余传感器为接收传感器,同时接收信号,作为响应信号,分别获取无损伤板类结构和同类板损伤状态下的响应信号,以所述无损伤板类结构的响应信号作为基准信号,以所述同类板损伤状态下的响应信号为损伤信号,n个传感器组成一圆形稀疏阵列,相邻传感器的间距不大于50mm;
2)对所述基准信号和损伤信号进行预处理后做差,得到差值信号,并对所述差值信号通过Hilbert变换提取差值信号包络;
3)从所述差值信号包络中提取直达波差值包络,以直达波差值包络的最大幅值衡量对应直达波差值的大小;
4)获取每个传感器作为激励传感器时对应的直达波差值中最大的2组检测数据所在的传感器对,将所有传感器对分别用直线连接,获得2n条直线;
5)以C均值聚类算法获得所述2n条直线的交点的聚类中心,以获得的聚类中心作为缺陷位置。
2.根据权利要求1所述的基于前向散射波和C均值聚类算法的板类缺陷定位方法,其特征在于,所述n满足n≥10。
3.根据权利要求1所述的基于前向散射波和C均值聚类算法的板类缺陷定位方法,其特征在于,所述步骤2)中,所述预处理具体为:对所述基准信号和损伤信号依次进行高阶滤波和小波降噪处理。
4.根据权利要求1所述的基于前向散射波和C均值聚类算法的板类缺陷定位方法,其特征在于,所述步骤3)中,从所述差值信号包络中提取直达波差值包络具体为:
根据基准信号的时域波形确定直达波波包的时间范围,根据该时间范围确定对应差值信号包络的范围,然后提取该范围内的包络信号,即为直达波差值包络。
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