[发明专利]检测显示屏中显示区域的方法和装置有效
申请号: | 201710229945.4 | 申请日: | 2017-04-10 |
公开(公告)号: | CN107103865B | 公开(公告)日: | 2020-12-15 |
发明(设计)人: | 王中琦;田广 | 申请(专利权)人: | 海信视像科技股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 刘丹;黄健 |
地址: | 266555 山东省青*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 显示屏 显示 区域 方法 装置 | ||
本发明实施例提供一种检测显示屏中显示区域的方法和装置。该方法包括:对显示的第一亮度图像和第二亮度图像进行拍摄,分别得到第一和第二图像;根据第一和第二图像中各像素点的亮度值,获取亮度变化率矩阵;亮度变化率矩阵中各元素的取值表征第一和第二图像中同一像素点的亮度变化率;根据亮度变化率矩阵中各元素的取值,确定显示屏的显示区域。本发明实施例计算两幅图像中各像素点的亮度变化率,根据变化率确定显示区域的方法,消除了依靠单幅图像检测显示区域时,散射光线对检测准确度的影响,确保了显示区域检测的准确度。
技术领域
本发明涉及图像处理技术,尤其涉及一种检测显示屏中显示区域的方法和装置。
背景技术
在显示屏的生产过程中,可能存在原材料特性不均匀、显示屏电路或构造存在缺陷、加工条件发生变动等不可避免的情况,进而导致生产的显示屏存在不均匀(mura)缺陷,如亮度不均匀、颜色出现偏差等。存在mura缺陷的显示屏可显示经过mura补偿的图像,以改善显示效果。
为保证mura补偿的精准性,需确定显示屏上mura缺陷的分布位置。在确定mura缺陷的分布位置时,具体步骤包括:在显示屏上显示测试图像,并采用拍摄设备拍摄显示屏的显示效果;拍摄得到的第一图像中既包括显示屏的显示区域,也包括显示区域外围的显示屏外壳等背景区域,因此还需在第一图像中截取属于显示屏显示区域的第二图像;将第二图像与测试图像缩放为具有相同数量的像素点后进行计算分析,得到mura缺陷的分布位置。
在从拍摄得到的第一图像中截取第二图像时,需确定第一图像中的显示区域。现有技术中考虑到图像显示过程中,显示屏的显示区域有亮度,而显示屏边框无亮度,可通过亮度差异确定显示屏的显示区域。但是,当测试图像的亮度较高时,散射光较强,显示屏边框在散射光的影响下也具有较高的亮度,显示区域与显示屏边框的亮度区别不明显,当测试图像的亮度较低时,显示区域的亮度与显示屏边框的亮度均较小,显示区域与显示屏边框的亮度区别同样不明显。因此,现有的检测显示屏中显示区域的方法准确度较差。
发明内容
本发明提供一种检测显示屏中显示区域的方法和装置,用于解决现有的检测显示屏中显示区域的方法准确度较差的问题。
第一方面,本发明实施例提供一种检测显示屏中显示区域的方法,包括:
对显示的第一亮度图像和第二亮度图像进行拍摄,分别得到第一和第二图像;所述第一亮度图像中的各像素点具有相同的第一灰阶值,所述第二亮度图像中的各像素点具有相同的第二灰阶值,所述第一灰阶值与所述第二灰阶值不同;
根据所述第一和第二图像中各像素点的亮度值,获取亮度变化率矩阵;所述亮度变化率矩阵中各元素的取值表征所述第一和第二图像中同一像素点的亮度变化率;
根据所述亮度变化率矩阵中各元素的取值,确定所述显示屏的显示区域。
在一种实施方式中,根据所述第一和第二图像中各像素点的亮度值,获取亮度变化率矩阵,包括:
采用亮度变化率公式R[i,j]=(L1[i,j]-L2[i,j])/L2[i,j],获取亮度变化率矩阵中各元素的取值;
其中,R[i,j]表示所述亮度变化率矩阵中第i行第j列的元素的取值,L1[i,j]为所述第一图像中的第i行第j列的像素点的亮度值,L2[i,j]为所述第二图像中的第i行第j列的像素点的亮度值,i的取值为从0至N-1的正整数,j的取值为从0至M-1的正整数,N为所述亮度变化率矩阵的总行数,M为所述亮度变化率矩阵的总列数。
在另一种实施方式中,所述根据所述亮度变化率矩阵中各元素的取值,确定所述显示屏的显示区域,包括:
从所述亮度变化率矩阵的所有元素中,确定边缘元素,所有所述边缘元素构成所述显示屏的显示区域的边界;
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