[发明专利]一种嵌入式存储器自适应工作参数调整方法

权利要求书

1.一种嵌入式存储器自适应工作参数调整方法，其特征在于，包括：

步骤01：设定参数调整目标M；

步骤02：动态生成DAC__i的扫描基准值DAC__基准；i为≥1；DAC表示电路设计的参数调整档位步数标记；

步骤03：基于步骤02中动态生成的扫描基准值DAC__基准，判断后续DAC__i+1的参数调整空间档位调整方向；

其中，步骤03具体包括：

步骤031：利用DAC__max减去DAC__基准或DAC__min减去DAC__基准，来计算D__max或DAC__min的参数调整空间档位；

步骤032：搜索出对应于参数调整目标M的参数调整空间档位；

步骤033：若为否，则重复步骤01～032；若为是，则结束；

其中，所述步骤031具体包括：比较在DAC__基准和DAC__min下的存储器的电路特性的输出信号f(DAC__基准)和f(DAC__min)，若f(DAC__基准)＞M，则扫描整个DAC__基准和DAC__min的参数调整空间档位的电路特性；否则，则扫描整个DAC__基准和DAC__max的参数调整空间档位的电路特性。

2.根据权利要求1所述的嵌入式存储器自适应工作参数调整方法，其特征在于，步骤02中，动态生成DAC__i的扫描基准值DAC__基准，包括：当i为1时，扫描基准值DAC__基准为上一个晶圆的DAC分布值的平均值；当i不为1时，扫描基准值DAC__基准为待测的晶圆周边局部DAC的加权平均值。