[发明专利]具有法拉第罩的测试块有效

专利信息
申请号: 201710225121.X 申请日: 2017-04-07
公开(公告)号: CN107449941B 公开(公告)日: 2022-01-25
发明(设计)人: 菲利普·弗朗斯;亚历山大·夏耶 申请(专利权)人: 泰连服务有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 北京市万慧达律师事务所 11111 代理人: 杨倩;张劼
地址: 瑞士沙*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 具有 法拉第 测试
【权利要求书】:

1.一种用于植入在连接待测试设备和给所述待测试设备供电的电源的电路中的测试块,所述测试块包括:

-具有多个内部电路的基座(10),所述内部电路能够允许将信息从所述电源传输至所述待测试设备,

-保护罩(11),其用于与所述基座(10)可移除地组装以形成其中容纳所述内部电路的封闭外罩,

-所述基座(10)和所述保护罩(11)配置成使得所述保护罩(11)的移除准许进入由所述基座(10)限定的接收区(12),并且能够通过插入来接收测试插头(13),所述测试插头(13)独立于所述测试块并且电连接至测试设备,所述测试块特征在于所述基座(10)和所述保护罩(11)包括导电元件,所述导电元件彼此连接并且配置成确保连续性且磁性屏蔽封闭件使得由所述基座(10)和所述保护罩(11)限定的所述外罩是保护所述内部电路免受由所述基座(10)和所述保护罩(11)限定的所述外罩外部的磁场的法拉第罩,所述基座(10)包括可移除盖(20),所述可移除盖相对于所述基座(10)的剩余部分的移除准许进入所述内部电路,且所述可移除盖(20)包括构成所述法拉第罩的所述导电元件的一部分,

-至少一个多触头型输入插座(17),其可从所述外罩外侧进入并且具有输入插座(17)的触头,所述输入插座(17)的触头分别电连接至所述内部电路使得所述输入插座(17)同时连接至全部所述内部电路,所述输入插座(17)配置成使得其可连接至独立于所述测试块的第一多触头型连接器,并且输入插座(17)具有电连接至所述电源的第一多触头型连接器的触头,

-至少一个多触头型输出插座(18),其可从所述外罩外侧进入并且具有输出插座(18)的触头,所述输出插座(18)的触头分别电连接至所述内部电路使得所述输出插座(18)同时连接至全部所述内部电路,所述输出插座(18)配置成使得其可连接至独立于所述测试块的第二多触头型连接器,并且输出插座(18)具有电连接至所述待测试设备的第二多触头型连接器的触头。

2.根据权利要求1所述的测试块,其特征在于在所述基座(10)的外壁的全部或部分表面上,所述外壁包括铝板。

3.根据权利要求1所述的测试块,其特征在于在所述保护罩(11)的外壁的全部或部分表面上,所述外壁包括铝板。

4.根据权利要求1所述的测试块,其特征在于所述输入插座(17)由包括具有8个触头位置的管脚的RJ45型公连接器或母连接器形成,每个所述管脚对应于所述输入插座(17)的触头。

5.根据权利要求1所述的测试块,其特征在于所述输出插座(18)由包括具有8个触头位置的管脚的RJ45型公连接器或母连接器形成,每个所述管脚对应于所述输出插座(18)的触头。

6.一种测试器具,其包括根据权利要求1至5中任一项所述的测试块和能够在移除所述保护罩(11)之后插入至由所述基座(10)限定的所述接收区(12)中的测试插头(13),所述测试块的所述内部电路和所述测试插头(13)配置成使得所述测试插头(13)的插入导致临时作用于所述测试块的全部或部分所述内部电路,前提是所述测试插头(13)插入,所述临时作用使得其允许由于所述测试设备对所述待测试设备实行测试和/或校准操作。

7.根据权利要求6所述的测试器具,其特征在于所述基座(10)包括至少一个多触头型输入插座(17),所述输入插座可从所述外罩外侧进入并且具有输入插座(17)的触头,所述输入插座(17)的触头分别电连接至所述内部电路使得所述输入插座(17)同时连接至全部所述内部电路,所述测试器具包括能够连接至所述测试块的所述输入插座(17)的第一多触头型连接器,所述第一多触头型连接器独立于所述测试块并且具有经由第一多芯电缆电连接至所述电源的第一多触头型连接器的触头,且构成所述法拉第罩的所述导电元件连接至所述第一多芯电缆的屏蔽罩。

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