[发明专利]一种锡膏精密焊接的视觉识别闭环控制方法有效

专利信息
申请号: 201710224696.X 申请日: 2017-04-07
公开(公告)号: CN106944705B 公开(公告)日: 2019-02-19
发明(设计)人: 徐琦;王浩;李仁明;叶凯 申请(专利权)人: 武汉比天科技有限责任公司
主分类号: B23K3/08 分类号: B23K3/08;B23K1/005
代理公司: 武汉帅丞知识产权代理有限公司 42220 代理人: 朱必武
地址: 430079 湖*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 锡膏 闭环控制 精密焊接 视觉识别 焊接 焊点 机器视觉检测 激光焊接过程 垂直投影 激光模块 自动焊接 未焊透 无残留 飞溅 焊盘 激发 覆盖 保证
【说明书】:

本发明涉及自动焊接领域,特涉及一种锡膏精密焊接的视觉识别闭环控制方法。本发明的方法采用机器视觉检测焊盘和锡膏的垂直投影面积为基础,通过控制激光模块的激发电流大小和时间,实现整个锡膏配激光焊接过程中对锡膏覆盖面积的精确控制,达到无飞溅、无残留的焊接效果,并分别处理无锡或者少锡、焊点未焊透等问题,保证良好的焊接品质。

技术领域

本发明涉及自动焊接领域,特涉及一种锡膏精密焊接的视觉识别闭环控制方法。

背景技术

在使用激光作为热源、锡膏作为钎料的软钎焊领域,由于锡膏中含有助焊剂,而且激光可瞬间将锡膏加热到较高温度,焊点表面的锡膏会在激光的照射下流动并散开。如果锡膏流动到距离焊盘较远的位置,受锡的趋热性作用距离限制,锡膏熔化后无法将这些距离较远的部分拉回焊盘,导致锡膏在工件上形成残留或飞溅,影响焊接后的电气性能。

当焊点上的锡膏受热熔化后,会在焊点上形成液态锡球,当焊盘表面进一步受热后,锡球才会在焊盘表面铺开,形成良好焊接。但是受环境等因素的影响,在指定的时间内,锡球不能百分之百铺开,从而形成焊接不良。

专利《空焊AOI锡膏检测方法》中提出检测焊盘是否空焊的方法,无法判断焊盘上的锡是否完全铺开,更无法解决锡没有完全铺开的问题。

专利CN201110295769《改善焊盘外形限制锡膏扩散的结构和方法》从印制电路板的设计结构上控制了锡膏过锡炉时的扩散范围,但是不适用于柔性电路板,也不适用于焊接过程中的锡膏范围控制和飞溅、残留的抑制,且无法对锡量多少进行判断,更无法对焊接后锡在焊盘上的附着面积进行检测和修正,因此其方法的有效性、先进性和适用性有限,该专利与本发明将要公开的方法在原理、结构和适用范围上差异明显。

发明内容

针对现有技术的不足,本发明提供了一种锡膏精密焊接的视觉识别闭环控制方法。本发明的方法采用机器视觉检测焊盘和锡膏的垂直投影面积为基础,通过控制激光模块的激发电流大小和时间,实现整个锡膏配激光焊接过程中对锡膏覆盖面积的精确控制,达到无飞溅、无残留的焊接效果,并分别处理无锡或者少锡、焊点未焊透等问题,保证良好的焊接品质。

本发明的技术方案是:一种锡膏精密焊接的视觉识别闭环控制方法,包括预热阶段、熔化阶段和冷却阶段,其特征在于:

所述的预热阶段的加工过程为:在焊接开始时刻t0发射激光,直到t0+Δt1时锡膏扩散至S1的边界处;

所述的熔化阶段的加工过程为:在Δt2时间段内激光电流迅速增加,使小锡珠逐步熔化并集中在一起形成液态锡球;然后设置图像处理参数提取焊盘上的锡的实时垂直投影面积S4,设置焊接完成后锡在焊盘上的最小覆盖面积S5,使用PID算法控制激光电流,激光继续加热焊盘,直到时间点t0+Δt1+Δt2+Δt2’,锡在焊盘上铺开面积大于等于最小覆盖面积S5,熔化第二阶段结束;

所述的冷却阶段的加工过程为:将激光电流保持在熔化阶段电流的80%±10%范围内,使锡缓慢凝固;

其中第一限定区域S1取值范围为105%至140%焊盘的垂直投影面积S0;最小覆盖面积S5取值范围为70%至100%焊盘的垂直投影面积S0。

根据如上所述的锡膏精密焊接的视觉识别闭环控制方法,其特征在于:所述的预热阶段的加工过程还包括以下步骤:设定焊接预热阶段时间为Δt1,检测焊盘上锡膏的初始面积S3,如果面积为零,控制点锡装置12对该焊点加锡,重新开始焊接;如果焊盘上的锡的实时垂直投影面积S4在t0+Δt1*50%时刻并没有扩散至S3的120%,则控制点锡装置12对该焊点加锡,在重新开始焊接;如果连续2次计算中,焊盘上的锡的实时垂直投影面积S4无变化,则将预热电流增加1安培,如此重复,使预热阶段的激光电流尽可能大,且锡膏不超出S2区域范围,在t0+Δt1时刻,预热阶段结束;其中第二限定区域S2取值范围为130%至160%焊盘的垂直投影面积S0;初始投影面积S3取值范围为60%至90%焊盘的垂直投影面积S0。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉比天科技有限责任公司,未经武汉比天科技有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710224696.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top