[发明专利]一种在不均匀磁场下测量质子纵向弛豫时间的方法有效

专利信息
申请号: 201710222672.0 申请日: 2017-04-07
公开(公告)号: CN107015181B 公开(公告)日: 2020-01-14
发明(设计)人: 蔡淑惠;陈浩;陈忠 申请(专利权)人: 厦门大学
主分类号: G01R33/44 分类号: G01R33/44;G01R33/46
代理公司: 35200 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 代理人: 马应森
地址: 361005 *** 国省代码: 福建;35
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 不均匀 磁场 测量 质子 纵向 弛豫时间 方法
【权利要求书】:

1.一种在不均匀磁场下测量质子纵向弛豫时间的方法,其特征在于包括以下步骤:

1)将待测样品装入核磁管,并将装入待测样品后的核磁管送入核磁共振波谱仪的检测腔;

2)在核磁共振波谱仪的操作台上打开波谱仪控制软件,调用非选择性π/2射频脉冲序列采集一维氢谱,获得谱峰分布和谱宽信息,然后进行射频线圈调谐;

3)测量非选择性π/2射频脉冲宽度以及溶剂选择性(π/2)I射频脉冲宽度和功率;所述测量非选择性π/2射频脉冲宽度,是通过测量使磁化矢量由纵向方向翻转到横向平面对应的脉冲作用时间,即得非选择性π/2射频脉冲宽度;改变步骤2)中所述非选择性π/2射频脉冲序列的脉冲类型为溶剂选择性(π/2)I射频脉冲,测定溶剂选择性(π/2)I射频脉冲的脉冲宽度和功率;

4)在核磁共振波谱仪上导入设计编译的测量纵向弛豫时间的脉冲序列,打开这一脉冲序列的溶质纵向磁化矢量反转恢复模块、空间编码模块、分子间二量子相干信号选择模块和空间解码采样模块;所述溶质纵向磁化矢量反转恢复模块由一个溶剂选择性(π)I射频脉冲、一个非选择性π射频脉冲以及纵向磁化矢量反转恢复时间Δ构成;所述分子间二量子相干信号选择模块由一个相干选择梯度G1、一个溶剂选择性(π/2)I射频脉冲、一个相干选择梯度G2以及一个自旋回波组合δ-π-δ构成,其中相干选择梯度G1和G2作用时间相同但强度比为1︰(-2);所述空间解码采样模块是由施加在采样期的一对解码梯度场构成;

5)设置设计编译的测量纵向弛豫时间的脉冲序列实验参数,检查实验参数设置无误后,执行数据采集;

6)当数据采集完成后,进行相应的二维谱图旋转和累积投影,可得到一组幅值受到纵向磁化矢量反转恢复时间Δ调制、包含高分辨化学位移信息的一维频率谱;

7)对各谱峰的幅值变化曲线分别进行数值拟合,即得到相应的纵向弛豫时间。

2.如权利要求1所述一种在不均匀磁场下测量质子纵向弛豫时间的方法,其特征在于在步骤2)中,所述非选择性π/2射频脉冲序列由一个非选择性π/2射频脉冲构成,由非选择性π/2射频脉冲序列采样得到的一维氢谱直接获取相应的谱峰分布和谱宽信息,根据所获信息设置溶剂峰中心为脉冲激发中心。

3.如权利要求1所述一种在不均匀磁场下测量质子纵向弛豫时间的方法,其特征在于在步骤4)中,所述空间编码模块由两个相同的chirp线性调频绝热脉冲和极性相反的梯度场组成。

4.如权利要求1所述一种在不均匀磁场下测量质子纵向弛豫时间的方法,其特征在于在步骤5)中,所述设置设计编译的测量纵向弛豫时间的脉冲序列实验参数包括设置非选择性π/2射频脉冲宽度、chirp线性调频绝热脉冲宽度、chirp线性调频绝热脉冲扫频宽度、编码梯度强度Ge、相干选择梯度G1及其作用时间、相干选择梯度G2及其作用时间、溶剂选择性(π/2)I射频脉冲宽度及功率、溶剂选择性(π)I射频脉冲功率、回波时间δ、空间解码采样模块采样点数np1及模块重复个数Na、解码梯度强度Ga、序列延迟时间TR、纵向磁化矢量反转恢复时间Δ。

5.如权利要求1所述一种在不均匀磁场下测量质子纵向弛豫时间的方法,其特征在于在步骤5)中,所述设计编译的测量纵向弛豫时间的脉冲序列实验参数,包括一组变化的纵向磁化矢量反转恢复时间Δ。

6.如权利要求1所述一种在不均匀磁场下测量质子纵向弛豫时间的方法,其特征在于在步骤6)中,当数据采集完成后,对每一个纵向磁化矢量反转恢复时间Δ对应的二维谱逆时针旋转45°,然后沿空间编码维进行累积投影,得到一组高分辨一维谱,测量各个谱峰的幅值并进行归一化处理,将幅值最小点之前的数据点的幅值置为负值,绘制谱峰幅值随纵向磁化矢量反转恢复时间Δ变化曲线。

7.如权利要求1所述一种在不均匀磁场下测量质子纵向弛豫时间的方法,其特征在于在步骤7)中,对步骤6)中得到的幅值随Δ变化曲线使用函数y=a-b*exp(-x/T1)进行计算机拟合,自变量x为纵向磁化矢量反转恢复时间Δ,函数值y为对应谱峰的幅值,拟合曲线求取a、b、T1三个参数值,T1即为谱峰所对应氢原子自旋的纵向弛豫时间。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于厦门大学,未经厦门大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710222672.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top