[发明专利]一种冲击对产品衰退过程影响的分析及预防维修方法

权利要求书

1.一种冲击对产品衰退过程影响的分析及预防维修方法，其特征在于，包括步骤：

S1、建立竞争风险可靠性模型；

S2、采用步骤S1建立的可靠性模型进行仿真，得到产品失效时间累积分布函数；

S3、利用步骤S2得到的产品失效时间累积分布函数同时考虑工况控制，建立预防维修方法模型并优化；

步骤S1具体包括：

当冲击力大小大于产品失效阈值时为致命冲击，产品立即失效；

当冲击力大小小于产品失效阈值时为非致命冲击，产品衰退值X_s(t)随非致命冲击次数增加而增加，直到衰退值大于衰退失效阈值时，产品失效；

当冲击力大小小于产品失效阈值时，判断冲击力大小是否大于状态转移阈值：

否，则冲击导致衰退程度增加；

是，则导致衰退程度和衰退速率增加且衰退失效阈值降低；

其中衰退程度和衰退速率增加导致衰退值增加；

其中，为均值为μ₀、方差为的正态分布的截距参数；β_k为第k次状态转移之前的均值为μ₁、方差为的正态分布衰退速率参数，β₁为第一次状态转移之前的衰退速率；t_ck为产品发生第k次状态转移的时间；Y_i对应第i次冲击导致的衰退增加程度；ε(t)为均值为零、方差为σ²的正态分布的过程噪声；n(t)为至时刻t发生的状态转移数，N(t)为至时刻t发生的冲击数；

当产品发生第k次状态转移时，产品衰退速率由β_k变为β_k+1，定义：

β_k+1＝β_k+η_k (2)

其中η_k为均值为μ_η、方差为的正态分布的正随机变量；

同时，产品衰退失效阈值由D_sfk变为D_sf(k+1)，定义：

D_sf(k+1)＝D_sfk-θ_k (3)

其中θ_k为均值为μ_θ、方差为的正态分布的正随机变量；

各冲击的到达时间符合到达率为λ的齐次分布，且与衰退过程与冲击大小无关，则至时刻t产品受到的冲击次数N(t)符合Poisson分布，即：

W_i为一系列独立同分布的非负随机变量，且有相同的累积分布函数G(w)＝P(W_i＜w)，其中G(w)与D_e、D_hf无关，w为一个代表冲击大小的随机变量；

根据冲击大小的累积分布函数，则对于第i次冲击产品不发生硬失效的概率为：

P(W_i＜D_hf) (5)

另一方面，Y_i与W_i相关，记为：

Y_i＝Q(W_i) (6)

其中，Q(W_i)为一递增的映射函数。