[发明专利]一种绝缘子表面污秽度的判定方法

权利要求书

1.一种绝缘子表面污秽度的判定方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1根据第i个污秽度等级指标和绝缘子的表面积配置第i个污秽度等级的标准溶液，获得第i个污秽度等级的标准溶液的灰度值，总共获得N个污秽度等级的标准溶液的灰度值；

S2将用蒸馏水浸润的脱脂棉球与绝缘子表面相互挤压，直至将绝缘子表面污秽转移至脱脂棉球上，获得采样脱脂棉球；

S3将所述采样脱脂棉球上污秽转移至蒸馏水中，获得污秽度样品溶液；

S4获得所述污秽度样品溶液的灰度值，将所述污秽度样品溶液的灰度值与所述第i个污秽度等级的标准溶液的灰度值比较，获得第i个比较结果，总共获得N个比较结果，根据N个比较结果确定绝缘子表面污秽度；

其中，1≤i≤N，i为污秽度等级次序，N为污秽度等级总数量，每个污秽度等级的标准溶液体积均相同，且污秽度样品溶液体积与每个污秽度等级的标准溶液体积均相同；

所述步骤S1中配置第i个污秽度等级的标准溶液为将质量为ma_i的氯化钠、质量为ms_i的硅藻土以及体积为V_i的蒸馏水混合搅拌后获得；

其中，ma_i为配置第i个污秽度等级的标准溶液所需氯化钠的质量，根据每个污秽度等级指标中等值盐密指标和绝缘子的表面积确定每个污秽度等级的氯化钠的质量，ms_i为配置第i个污秽度等级的标准溶液所需硅藻土的质量，根据每个污秽度等级指标中灰密指标和绝缘子的表面积确定每个污秽度等级的硅藻土的质量。

2.如权利要求1所述的判定方法，其特征在于，所述步骤S4中获得比较结果包括如下步骤：

S41判断所述污秽度样品溶液的灰度值是否大于与所述第i个污秽度等级的标准溶液的灰度值，若是，则进入步骤S42，否则，绝缘子表面污秽度位于第i个等级；

S42判断污秽度等级次序i是否大于污秽度等级总数量N，若是，则终止，否则，令i＝i+1，进入步骤S41。

3.如权利要求1或2所述的判定方法，其特征在于，所述脱脂棉球置于测量杆上，通过移动所述测量杆带动所述脱脂棉球与待测绝缘子表面挤压。

4.如权利要求1或2所述的判定方法，其特征在于，所述步骤S3中蒸馏水的容量在200ml～400ml。