[发明专利]基于Beamlet线特征定位的3D模型水印方法有效

专利信息
申请号: 201710190760.7 申请日: 2017-03-28
公开(公告)号: CN106709855B 公开(公告)日: 2020-07-28
发明(设计)人: 刘晶;陈进磊;何文娟 申请(专利权)人: 西安理工大学
主分类号: G06T1/00 分类号: G06T1/00
代理公司: 西安弘理专利事务所 61214 代理人: 罗磊
地址: 710048*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 基于 beamlet 特征 定位 模型 水印 方法
【说明书】:

发明公开了一种利用顶点一环邻域面积和Beamlet线特征构造水印同步信息的三维盲水印方法,包括以下步骤:依据三维模型顶点的一环邻域面积,从小到大选出M个不重叠的一环邻域;对此M个一环邻域进行独立的切面投影,提取M条Beamlet线特征,确定M个水印位的嵌入位置;修改与Beamlet线特征相对的顶点坐标,使与其相连的两条网格边长度相等来嵌入水印信息位;水印检测不需要原始三维模型。本发明方法为空域盲水印方法,在保证水印透明性前提下,明显改善了水印方法对抗仿射变换攻击的鲁棒性;算法对抗网格简化、平滑和噪声等攻击也具有较强的鲁棒性。

技术领域

本发明属于数字水印方法技术领域,涉及一种基于Beamlet线特征定位的3D模型水印方法。

背景技术

三维模型用途广泛,在娱乐业、制造业等都有其身影,因此,保护三维模型的版权相当重要。数字水印作为三维模型版权保护和内容认证的有效手段,近年来得到广泛研究。由于三维模型中的点、线、面数据具有有序性,且模型易受到平移、缩放、旋转、网格简化等处理的攻击,致使水印嵌入过程中,无法利用傅里叶变换、余弦变换、小波变换等数学工具进行分析。这限制了三维模型水印技术的研究与发展,使三维模型水印方法的鲁棒性弱、抗仿射变换攻击能力差。

发明内容

本发明的目的是提供一种基于Beamlet线特征定位的3D模型水印方法,对仿射变换的旋转和等比缩放等攻击具有强鲁棒性。

本发明所采用的技术方案是,基于Beamlet线特征定位的3D模型水印方法,包括以下步骤:

步骤1,嵌入水印;

步骤1.1,确定水印嵌入位置;

步骤1.1.1,计算三维模型顶点的一环邻域面积;

步骤1.1.2,依据步骤1.1.1计算的面积,从小到大取M个独立的一环邻域,并将它们投影在各自的一环邻域中心顶点的切面上,以中心顶点在切面上的投影为投影图像的坐标原点,中心顶点的切面为平面建立新坐标系;

步骤1.1.3,用8×8个像素大小的二维图像表示投影图像,提取投影图像的Beamlet线特征;

步骤1.2,嵌入二值水印序列b′;

修改一环邻域内与Beamlet线特征相对的顶点坐标,若修改Beamlet线特征左侧的顶点坐标,使与该顶点相连的两条网格边长度相等,则嵌入二值水印b′的信息位‘1’;若修改Beamlet线特征右侧的顶点坐标,使与该顶点相连的两条网格边长度相等,嵌入二值水印b′的信息位‘0’;

步骤1.3,将M个水印信息位依照步骤1.2嵌入到M个一环邻域内的相应顶点中,得到水印版三维模型;

步骤2,提取水印;

步骤2.1,确定携带水印信息位的顶点;

步骤2.1.1,计算水印版三维模型每个顶点的一环邻域面积;

步骤2.1.2,依据步骤2.1.1计算的面积,从小到大取M个独立的一环邻域,并将它们投影在各自的一环邻域中心顶点的切面上,中心顶点在切面上的投影为投影图像的坐标原点;

步骤2.1.3,用8×8个像素大小的二维图像表示投影图像,提取投影图像的Beamlet线特征;

步骤2.2,提取二值水印序列b″;

步骤2.2.1确定顶点携带的水印信息位:

若Beamlet线特征左侧顶点的两条相连网格边长度相等,则携带水印信息位‘1’;

若Beamlet线特征右侧顶点的两条相连网格边长度相等,则携带水印信息位‘0’;

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