[发明专利]计算机绘图中的绘制箭头的方法、计算机设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 201710190224.7 申请日: 2017-03-27
公开(公告)号: CN106991709B 公开(公告)日: 2017-12-26
发明(设计)人: 肖辉 申请(专利权)人: 湖南新航动力信息科技有限公司
主分类号: G06F17/00 分类号: G06F17/00;G06T11/20
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 代理人: 林青中
地址: 410007 湖南省长沙市高新开发*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 绘制 箭头 方法 计算机 设备 存储 介质
【说明书】:

技术领域

发明涉及计算机绘图技术领域,特别是涉及一种计算机绘图中的绘制箭头的方法、计算机设备以及存储介质。

背景技术

随着计算机技术的发展,计算机绘图已经成为计算机技术中的一项重要内容,涉及美术、设计、教育、军事以及会议等众多领域,在计算机绘图的技术中,绘制箭头是其中一项基本而重要的内容,在很多不同的应用领域的绘图中,都会涉及到箭头的绘制,例如流程图、走向趋势图等。目前的箭头的绘制,要么是直接使用直线箭头,要么是通过一些曲线,例如贝塞尔曲线、样条曲线等进行绘制,这些曲线的控制点复杂,控制效果并不好。例如,贝塞尔曲线的控制点并不在曲线上,而且控制点太多,而样条曲线的控制点虽然在曲线上,但是在控制点很近或一些其它情况下会出现拐弯,变形很厉害,从而导致本来应该是一条凸曲线,结果绘制出来的变成两端有点翘的波浪形曲线。

发明内容

基于此,本发明实施例的目的在于提供一种计算机绘图中的绘制箭头的方法、一种计算机设备以及一种存储介质,以提升绘制出的箭头的平滑性能和绘制过程中的控制效果,且绘制过程简单。

为达到上述目的,一个实施例中采用以下技术方案:

一种计算机绘图中的绘制箭头的方法,包括步骤:

在接收到箭头绘制指令时,采集绘制过程中的第一个采样点、第二个采样点以及第三个采样点,并确定通过第一个采样点、第二个采样点以及第三个采样点的第一初始抛物线;

确定以第一个采样点为中心点的位于第一初始抛物线一侧的第一单侧分立点、位于第一初始抛物线另一侧的第一对侧分立点,以第二个采样点为中心点的位于第一初始抛物线一侧的第二单侧分立点、位于第一初始抛物线另一侧的第二对侧分立点,以及确定以第三个采样点为中心点的位于第一初始抛物线一侧的第三单侧分立点、位于第一初始抛物线另一侧的第三对侧分立点;

确定通过第一单侧分立点、第二单侧分立点及第三单侧分立点的第一抛物线,通过第一对侧分立点、第二对侧分立点及第三对侧分立点的第二抛物线;

根据第一抛物线依次连接第一单侧分立点、第二单侧分立点、第三单侧分立点,根据设定箭头端形状及大小连接第三单侧分立点与第三个采样点、第三个采样点与第三对侧分立点,并根据第二抛物线依次连接第一对侧分立点、第二对侧分立点、第三对侧分立点,获得绘制的箭头。

一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时实现如上所述的绘制箭头的方法。

一种存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现如上所述的绘制箭头的方法。

基于如上所述的实施例,通过采集三个采样点,基于采集的三个采样点确定出通过该三个采样点的第一初始抛物线,并确定出以各采样点为中心点的位于第一初始抛物线两侧的分立点,在基于各分立点确定出第一初始抛物线两侧的第一抛物线、第二抛物线,然后结合第一抛物线、第二抛物线和设定箭头端形状及大小,对相关的点进行连接从而获得绘制的箭头。其基于抛物线实现箭头的绘制,且只需要三个点就可以绘制出箭头,克服了已有的通过塞尔曲线、样条曲线等进行绘制时控制点复杂、易变形的问题,提升了绘制出的箭头的平滑性能和绘制过程中的控制效果,且绘制过程简单。

附图说明

图1是一个实施例中的计算机绘图中的绘制箭头的方法的流程示意图;

图2是一个示例中本发明的各实施例方案中生成的抛物线的特性示意图;

图3是一个应用示例中的计算机绘图中的绘制的箭头的示意图;

图4另一个应用示例中的计算机绘图中的绘制的箭头的示意图;

图5是另一个应用示例中的计算机绘图中的绘制的箭头的示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步的详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施方式仅仅用以解释本发明,并不限定本发明的保护范围。

图1中示出了一个实施例中的计算机绘图中的绘制箭头的方法的流程示意图,该实施例中是一个绘制只有一个箭头端的示意图为例进行说明。

如图1所示,该实施例中的绘制箭头的方法包括下述步骤S101至步骤S105.

步骤S101:在接收到箭头绘制指令时,采集绘制过程中的第一个采样点、第二个采样点以及第三个采样点,并确定通过第一个采样点、第二个采样点以及第三个采样点的第一初始抛物线。

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